ДМИТРИЕВ ВИТАЛИЙ ПАВЛОВИЧ

  1. УСТРОЙСТВО ДЛЯ ИЗМЕРЕНИЯ НАПРЯЖЕННОСТИ ПОЛЯ АНИЗОТРОПИИ ФЕРРИТ-ГРАНАТОВЫХ ПЛЕНОК, содержащее поляризационный микроскоп с источником . поляризованного света, фотоприемник, оптически связанный с микроскопом, Источник переменного магнитного поля, ориентированного вдоль оптической оси поляризационного микроскопа , источник постоянного магнитного поля, ориентированного вдоль фокаль...

  Изобретение относится к вычислительной технике и может быть использовано для контроля параметров магнитных материалов в производстве магнитных накопителей информации. Способ основан на воздействии на магнитный материал переменным магнитным пол ем путем размещения магнитного материн-) ла в колебательном контуре с зависящим от амплитуды колебаний реактивным сопротивлением и возбужд...

  Изобретение относится к вычислительной технике и может быть использовано при изготовлении запоминающих устройств на цилиндрических маг нитных доменах. Целью изобрете-- ния является расширение области применения устройства за счет увеличения диапазона значений измеренных периодов полосовых доменных структур . Устройство для определения периода полосовой доменной структуры в магнит...