Сысоев С.Е.

 Изобретение относится к приборам для анализа угловых и энергетических распределений заряженных частиц и может применяться для исследования твердого тела, плазмы, процессов электронных и атомных столкновений. Сущность изобретения: существующие устройства не позволяют измерять в одной экспозиции распределения частиц по углу и энергии, что осуществляется в предлагаемом устройстве и приводит...

 Использование: для создания структур металл/диэлектрик/высокотемпературный сверхпроводник. Сущность изобретения: в способе получения структур металл/диэлектрик/высокотемпературный сверхпроводник, по которому на слой ВТСП 123-типа направляют поток атомных частиц и в процессе получения структуры производят контроль ее параметров, в качестве материала ВТСП берут DyBa2Cu3O7-,, воздействуют на...

 Изобретение относится к области анализа материалов с помощью рентгеновского излучения и может быть использовано для неразрушающего анализа химического состава многокомпонентных материалов и определения энергии связи остовного уровня атома, находящегося в определенном химическом состоянии. Для этого в известном способе, включающем измерение линии фотоэлектронного спектра по меньшей мере од...