Гордеев Ю.С.

  Использование: в области анализа материалов с помощью облучения образца пучком частиц. Сущность изобретения: образец облучают частицами с выбранным значением атомного номера, энергией соударения E и регистрируют частицы, рассеянные под определенным углом в том числе и многократно ионизованные частицы: выбор параметров облучения и регистрации производится из условия образования внутренне...

 Использование: изобретение (варианты) относятся к исследованию материалов путем определения их физических свойств. Сущность изобретения: способ включает зондирование поверхности материала электронами средних энергий. Ток зондирующих электронов задают не большим 100 нА, измеряют участок спектра в режиме счета отдельных электронов в недифференцированном виде и в диапазоне потерь энергии 0&l...

 Использование: для создания структур металл/диэлектрик/высокотемпературный сверхпроводник. Сущность изобретения: в способе получения структур металл/диэлектрик/высокотемпературный сверхпроводник, по которому на слой ВТСП 123-типа направляют поток атомных частиц и в процессе получения структуры производят контроль ее параметров, в качестве материала ВТСП берут DyBa2Cu3O7-,, воздействуют на...

 Изобретение относится к области анализа материалов с помощью рентгеновского излучения и может быть использовано для неразрушающего анализа химического состава многокомпонентных материалов и определения энергии связи остовного уровня атома, находящегося в определенном химическом состоянии. Для этого в известном способе, включающем измерение линии фотоэлектронного спектра по меньшей мере од...