ХЕЙККИ ЙОХАННЕС СИПИЛЯ

  ОП ИСАНИЕ ИЗОБРЕТЕН ИЯ К ПАТЕНТУ I (1 1) 567419 Союз Советских Социалистичвтских Республик (61) Дополнительный к патенту (22) Заявлено Ж04.75 (21) 2129164/25 (23) Приоритет — (32) 30,04.74 (31) 1332/74 (33) Финляндия (51) М, Кл. 601 и 23/223 Государственный комитет Совета Министров СССР по делам изобретений и открытий (43) Опубликовано 30.07.77. Бюллетень № 28 (53) УДК 621...

  Союз Советских Социалистических Республик ОП ИСАНИЕ ИЗОБРЕТЕН Ия К ПАТЕНТУ (61) Дополнительный к патенту— (ii)902679 :Ф / (22) Заявлено 04. 02. 77(21) 2449553/18-21 (61) М. Кл. (23) Приоритет — (32) 05,02. 76 G 01 Т 1/20 foeyaa pasanw!! комитет СССР (31) 760280 (33) Финляндия Опубликовано 30 ° О1,. 82. бюллетень №4 Дата опубликования описания 30.01.82 па делам нзобре...

  1. Способ определения распределения размеров частиц в потоке материала , заключаюощйся в пропускании; узкого луча рентгеновских квантов через поток движущихся с постоянной скоростью частиц, регистрации квантов , прошедших через упомянутый поток частиц, о т л и ч а ю щ и и с я тем, что, с целью повышения точности измерения частиц малых размеров, регистрируют рарпределениё временны...

  Изобретение относится к способам повьшения срока службы дозиметрических счетчиков излучений. Целью изобретения является повышение срока службы путем обеспечения замедленного осаждения продуктов полимеризации на поверхность анодного провода дозиметрического счетчика. Цель достигается добавлением в рабочий газ, на основе благородного газа и углеводорода водорода в количестве 0,05-...

  Изобретение относится к технической физике и может быть использовано в газонаполненных счетчиках излучения . Цель изобретения - повышение надежности и эффективности активации газов. Цель достигается тем, что нагревание стабилизатора до температуры активации осуществляют вводом тепла по тепловому впуску. Способ позволяет исключить необходимость нагрева корпуса счетчика до температ...

  Изобретение относится к способу учета фоновой радиации при определении интенсивности вторичного излучения образцов, подвергающихся сортировке . Цель - поньшение точности и, надежности измерения содержания ценных минералов в поверхностном слое образца. Интенсивность фона и вторичного излучения (характеристического рентгеновского излучения элемента, входящего в определяемый минерал...