Новоселов Ю.И.

 Изобретение относится к технике испытаний и может быть использовано при испытаниях космических аппаратов. Техническим результатом, достигаемым данным изобретением, является повышение достоверности результатов испытаний за счет более полного воспроизведения условий функционирования радиоэлектронной аппаратуры (РЭА) космического аппарата. Указанный технический результат достигается путем пр...

 Использование: при испытаниях функционирующих интегральных микросхем на комплиментарных структурах металл - окисел - полупроводник (КМОП ИМС) на стойкость к сбою при воздействии импульсного ионизирующего излучения. Техническим результатом является повышение эффективности и снижение стоимости моделирования воздействия импульсного ионизирующего излучения. Моделирующее импульсное ионизирующе...