КУЧИН АЛЬФРЕД АЛЕКСАНДРОВИЧ
Изобретатель КУЧИН АЛЬФРЕД АЛЕКСАНДРОВИЧ является автором следующих патентов:

Микроинтерферометр
ОП И" САЙИт= ИЗОБРЕТЕНИЯ Союз Сометскик Социалистических Феспу6лик (11) 579537 К АВТОРСКОМУ СВИДЕТЕЛЬСТВУ (61) Дополнительное к авт. свид-ву— (22) Заявлено 160276 (21) 2323595/25-28 с присоединением заявки №вЂ” (23) Приоритет (43) Опубликовано0 11.77. Бюллетень Ю 41 (45) Дата опубликования описания 28.1177 2 (5l) М. Кл. 01 В 9/02 ГФФ14эретээииы1 иемитэт Веэетэ Миэиетреэ CCC...
579537
Микроинтерферометр для контроля шероховатости поверхностей
Союз Советских Социалистических Республик ОП ИСАНИЕ ИЗОБРЕТЕНИЯ К АВТОРСКОМУ СВИДЕТЕЛЬСТВУ (i i>750273 (61) Дополнительное к авт. свид-ву— (22) Заявлено 26.12.77 (21) 2558876/25-28 (5) ) М. Кл. G 0l В 11/30 С 01 В 9/02 с присоединением заявки ¹ Пкударстаанный комитет (23) Приоритет до делам изобретений и открытий Опубликовано 23.07.80. Бюллетень № 27 Дата опубликовани...
750273
Однообъективный растровый микроскоп для измерения шероховатости поверхности
ОДНООБЪЕКТИВНЫЙ РАСТРОВЫЙ МИКРОСКОП ДЛЯ ИЗМЕРЕНИЯ ШЕРОХОВАТОСТИ ПОВЕРХНОСТИ, содержащий осветительг ный тубус, включающий зеркало и объек тив в оправе, и наблюдательный тубус, включающий растр сравнения и систему отсчета, отличающи.йся тем, что, с целью повышения точности измеV/ ff //iWf // /K рения, он снабжен дополнительной оправой , контактирующей с зеркалом, зеркало выполнено...
1095036
Осветительное устройство
ОСВЕТИТЕЛЬНОЕ УСТРОЙСТЮ по авт.св. № 593276, отличающееся тем, что, с целью расширения эксплуатационных возможностей один из коаксиально расположенных отражательных конусов выполнен с возможностью перемещения вдоль своей оптической оси, а тороидальный коллектив выполнен по меньшей мере из двух оптически независимых коаксиальных тороидальных зон. (Л х 00 00 СОЮЗ СОВЕТСКИХ СОЦ...
1101938
Осветительное устройство
ОСВЕТИТЕЛЬНОЕ УСТРОЙСТВО, содержащее последовательно установленные вдоль оптической оси источник света, коллектор и конденсор, отличающееся тем, что, с целыа улучшения качества изображения объекта по всему полю зрения с одновременным увеличением размера освещаемых полей зрения, уменьшения габаритов и упрощения конструкции , оно снабжено линзовым растром, установленным между колле...
1118948
Способ измерения геометрических параметров поверхности в интерференционном профилографе белого света
Изобретение относится к измерительной техни-ке и может быть использовано для измерения профиля и шероховатости поверхности, а также для определения толщины тонких пленок. Цель изобретения - повьппение точности измерений за счет исключения погрешностей , связанных с переходными процессами при автоподстройке и флуктуациями разности хода плеч интерфе- . рометра. Сущность способа зак...
1298542
Устройство для измерения геометрических параметров поверхности
Изобретение относится к йзмери- . тельной технике. Целью изобретения является повьппение точности измерений за счет исключения влияния дрейфа интерферометра и переходных процессов автоподстройки на результаты измерений. Устройство для измерения геометрических параметров поверхности содержит интерферометр 1, источник 2 белого света, который с первым фотоприемником 10 и схемой обра...
1350498
Осветительное устройство
Изобретение относится к, оптическому приборостроению, а более точно к осветительным устройствам микроскопа, характеризующимся высокой равномерностью освещения по всему полю зрения при широкой номенклатуре используемых источников света. Световой пучок источника света f после прохождения коллектора 2 мультиплицируется каждой из двух примыкакяцих одна к другой частей-комбинированног...
1425574
Осветительное устройство
Изобретение относится к устройствам для когерентного освещения объектов в микроскопии и обеспечивает повышение информационной емкости изображения. В устройстве между парой коаксиальных отражательных конусов 2 и 3 и тороидальным коллективом 5 помещен линзовый микрорастр 4, закрепленный в оправе 7, соединенный двумя пружинами 8 с неподвижным основанием 9. Полученная механическая кол...
1527611
Образцовая мера для аттестации и поверки приборов, измеряющих параметры неровностей профилей и поверхностей
Изобретение относится к измерительной технике. Цель изобретения - повышение точности и произвоительности аттестации и поверки, и кроме того, упрощение изготовления. Сущность: рельеф образцовой поверхности образован пересечением двух цилиндрических поверхностей с параллельными осями симметрии и перпендикулярными базовой поверхности с радиусами, функционально зависящими от передаточ...
1562673