СЕРГЕЕВ А.С.
Изобретатель СЕРГЕЕВ А.С. является автором следующих патентов:

Судовое люковое закрытие
СОЮЗ СОВЕТСНИХ СОЦИАЛИСТИЧЕСКИХ РЕСПУБЛИН (19) (И) )(51) 6 В 19 14 ГОСУДАРСТВЕННЫЙ КОМИТЕТ СССР ПО ДЕЛАМ ИЗОБРЕТЕНИЙ И ОТНРЫТИЙ ОПИСАНИЕ ИЗОБРЕТЕНИЯ К ABTOPCHOMY СВИДЕТЕЛЬСТВУ (21) 2314362/27-11 (22) 12.01.76 (46) 23.01 84. Бюл. В 3 (72) A,È.Oðëoâ и А.С.Сергеев (53) 629 ° 12.011.84 ° 011.51-182.3 (088.8) (56) 1. Журнал Mac Gregor News i 1971, 9 58 с ° 12. (54)(57) 1, СУД...
587818
Устройство для измерения профиля легирующей примеси в полупроводниковых структурах
СО)ОЭ СОВЕТСНИХ СОЦИАЛИСТИЧЕСКИХ РЕСПУБЛИН 3(Я) Я 01 Й 31/26 ГОСУДАРСТОЕННЫЙ HOMHTET СССР ПО ДЕЛАМ ИЗОБРЕТЕНИЙ И ОТНРЦТИЙ ОПИСАНИЕ ИЗОБРЕТЕНИЯ М ABTOPCHQMV СВИДЕТЕЛЬСТВУ (211 2797009/18-25 (22) 17.07.79 (46) 15.01.84. Бюл. Р 2 .(721 А.С.Сергеев (71) Научно-исследовательский ин ститут механики и физики при Саратовском ордена Трудового Красного Знамени государственном унив...
805781
Устройство для измерения профиля легирующей примеси в полупроводниковых структурах
УСТРОЙСТВО ДЛЯ ИЗМЕРЕНИЯ ПРОФИЛЯ ЛЕГИРУЮЩЕЙ ПРИМЕСИ В ПОЛУПРОВОДНИКОВЫХ СТРУКТУРАХ по авт.св. № 805781, о т л и ч а ю щ е е с я тем, что, с целью увеличения точности и расширения диапазона измерения , в него введен делитель напряжения ,, верхнее плечо которого соединено с выходом управляемого источника второй гармоники и входом селективного вольтметра второй гармоники, а нижнее п...
902600
Устройство для измерения профиля легирующей примеси в полупроводниковых структурах
УСТРОЙСТВО ДЛЯ ИЗМЕРЕНИЯ ПРОФИЛЯ ЛЕГИРУЮЩЕЙ ПРИМЕСИ В ПОЛУПРОВОДНИКОВЫХ СТРУКТУРАХ, содержащее шины для подключения исследуемой стркутуры, одна из которых присоединена к источнику обратного смещения , а другая через параллельный колебательный контур к общей шине и ко входам фильтров первой и второй гармоник сигнала, фильтр первой гармоники выполнен в виде последовательно включенн...
1061591
Электроплазмолизатор для обработки растительного сырья
1. ЭЛЕКТРОППАЗМОЛИЗАТОР ДЛЯ ОБРАБОТКИ РАСТИТЕЛЬНОГО СЫРЬЯ, содержащий корпус прямоугольного сечения с L входным и выходным отверстиями, внутри которого установлены параллельно продольной его оси пластинчатые электроды , гтодключенные к питающей сети, отличающийся тем, что, с целью повьшения эффективности процесса , два крайних электрода закреплены на противоположных стенках по вс...
1067634