ЦВЫК А.И.
Изобретатель ЦВЫК А.И. является автором следующих патентов:
Оротрон
ОПИСАНИЕ ИЗОБРЕТЕНИЯ К АВТОРСКОМУ СВИ ЕТИЛЬСТВУ Союз Советских Социалистических Республик 593589 (63) Дополнительное к авт. сеид-ву (22) Заявлено 1406.76 (21) 2370643/18-25 с присоединением заявки Ио— (23) Приоритет— Опубликовано 0709.81. Бюллетень h6 33 Дата опубликования описания 0 709,81 (я)м. к,.з Н 01 У 25/00 Государственный комитет СССР но делам изобретений и отк...
593589Генератор дифракционного излучения
00749278 ОПИСАНИЕ ИЗОБРЕТЕНИЯ К АВТОРСКОМУ СВИДЕТЕЛЬСТВУ Союз Советских Социалистических Республик (61) Дополнительное к авт. свид-ву 593589 (22) Заявлено 26.01.79 (21) 2717970/18-25 с присоединением заявки № (51) М. Кл.з Н OIJ 25/00 ГссУдаРственный комитет (23) Приоритет (53) УДК 621.385.6 (088.8) (43) Опубликовано 23.09,82. Бюллетень № 35 (45) Дата опубликования описания...
749278Генератор дифракционного излучения
1. ГЕНЕРАТОР ДИФРАКЦИОННОГО ИЗЛУЧЕНИЯ, содержащий электронно-оптическую систему с катодом и отражателем , формирующую прямой и обратный пучки электронов, открытый резонатор , образованный двумя зеркалами, одно из которых снабжено выводом энергии, а в центральной части второго расположена дифракционная решетка, отличающийся тем, что, с целью увеличения срока службы и стабильности...
982480Способ определения коэффициента редукции плазменной частоты в приборах свч
. СПОСОБ ОПРЕДЕЛЕНИЯ КОЭФФИЦИЕНТА РЕДУКЦИИ ПЛАЗМЕННОЙ ЧАСТОТЫ .ЭЛЕКТРОННОГО ПОТОКА В ПРИБОРАХ СВЧ,включающий предварительную модуляцию электронов по плотности,измерение излучения электронного потока и измерение плотности электронного тока, отличающийся тем, что, с целью повьшения точности и разрешающей способности в приборах с дифракционной решеткой , вблизи дифракционной решетки...
1077501