ВАН-ДИК Эмманюэль Густав (US)

Изобретение относится к селективно отражающей структуре с регулируемым отражением и пропусканием в видимой, дальней ИК-области, средневолновой ИК-области, ближней ИК-области и радиолокационной областях ЭМ спектра. Селективно отражающая структура содержит переднюю поверхность и заднюю поверхность; подложку, пропускающую тепло и непрозрачную для видимого света, содержащую первый микропористый полим...