ШИРШОВ ЮРИЙ МИХАЙЛОВИЧ

  1601639 ОПИСАНИЕ ИЗОБРЕТЕН И Я К АВТОРСКОМУ СВИДЕТЕЛЬСТВУ Со1оэ Советских Социалистических Республик (61) Дополнительное к авт. свпд-ву— (22) Заявлено 17.12.76 (21) 2429937 18-25 (51 }.|!.1|л,.- G О! К 31/26 с присоединением заявки ¹вЂ” Гасударственный комитет Совета Министров СССР ,по аелам изобретений и открытий (23) Приоритет— (43) Опубликовано 05.04.78. Бюллс-.ень ¹ «...

  Изобретение относится к контрольно-измерительной технике и может быть использовано для определения размеров микрочастиц, находящихся в газовой или жидкой среде, а также на полированной поверхности. Цель - упрощение способа путем использования относительных измерений и повышение точности определения размеров путём устранения зависимости от положения микрочастицы относительно оси о...

  Изобретение относится к контрольно-измерительной технике и может быть использовано для регистрации дефектов на поверхности круглых объектов, например полупроводниковых пластин, оптических линз и т.п. Цель изобретения - повышение точности регистрации дефектов путем увеличения достоверности определения края контролируемого объекта. Для этого в устройстве, содержащем источник света,...

  Использование1 контрольно-измерительная техника, в частности дефектоскопия полированной поверхности полупроводниковых пластин и оптических деталей. Сущность изобретения, устройство содержит лазер (1), сканирующее устройство (2), фотоприемник (4), синхронизатор 6, 4 запоминающих устройства (7, 9, 13, 14), блок 8 счета и отображения информации, компаратор (12), элемент И (10), филь...