ФИШКОВА ТАТЬЯНА ЯКОВЛЕВНА
Изобретатель ФИШКОВА ТАТЬЯНА ЯКОВЛЕВНА является автором следующих патентов:
![Теневой способ определения коэффициентов аберрацией электроннооптической системы Теневой способ определения коэффициентов аберрацией электроннооптической системы](https://img.patentdb.ru/i/200x200/c895f2d4aa077fb0e6d599909725aea0.jpg)
Теневой способ определения коэффициентов аберрацией электроннооптической системы
О П И--C А- - Н:-4+=Е ИЗОБРЕТЕНИЯ Союз Советскик Социалистических Республик (>>) 608209 К АВТОРСКОМУ СВИДЕТЕЛЬСТВУ (61) дополнительное к авт. свид-ву— (22) Заявлено16,08,76 (2!) 2395003/18-25 с присоединением заявки PR— (23) Приоритет— (43) Опубликовано 250578 Бюллетень рй 19 (51) M. Кл. Н 01 J 29/46 Гаордаратааииый иоиитат Воаата Миииотроа СОВР аа ааааи итойратаиий и...
608209![Магнитная фокусирующая система Магнитная фокусирующая система](https://img.patentdb.ru/i/200x200/1c5e92d172dfc90d9daa848d94f91edf.jpg)
Магнитная фокусирующая система
Союз Советских Социалистических Республик ОП ИСАНИЕ H3O6PETEHH$l К АВТОРСКОМУ СВИДЕТЕЛЬСТВУ (11) 619984 (61) Дополнительное к авт. свид-ву— (22) Заявлено19.11.7б (21) 2421552/18-25 с присоединением заявки ¹ (23) Приоритет— 2 (51) М. Кл Н 01 1 29/64 Государственный комитет Совета Министров СССР по делам изобретений и открытий (43) Опубликовано15.08.78.Бюллетень № 30 (53)...
619984![Фокусирующе-отклоняющая система Фокусирующе-отклоняющая система](https://img.patentdb.ru/i/200x200/7a24ab95fe65dff58ae4bcfa78335d78.jpg)
Фокусирующе-отклоняющая система
О П И С А Н И Е | 658623 ИЗОБРЕТЕНИЯ Союэ Советских Соцналмстмяаооа Рфсяублмк К АВТОРСКОМУ СВИДФТВЛЬСТВУ (6!) Дополнительное к авт. свиа-ву (22) Заявлено 14.06.76 (2!) 2371335/18-25 (5!) hi. Кл. Н 01 Х 29/58 с присоединением заявки ¹ (23) Приоритет Геаударетввннв|й нюинтет СССР не двлам нзобрвтвннй н OTKpbITNN Опубликовано25.04.79.бюллетень %15 {53) УЙК 621,3.. .032. 26 (08...
658623![Масс-спектрометр Масс-спектрометр](https://img.patentdb.ru/i/200x200/60dec9102b6c020ed3be384dc99c68a1.jpg)
Масс-спектрометр
О П И С А Н И Е н1>873306 ИЗОБРЕТЕН ИЯ К АВТОРСКОМУ СВИДЕТЕЛЬСТВУ Союз Советсиик Сотаиапистимесиик Респубики (61) Дополнительное к авт. свид-ву (22)Заявлено 02.01.80(21) 286IIOg/18-25 с присоединением заявки № (23) Приоритет (53)M. Кл. Н 01 1 49/30 В OI D 59/44 3Ьвударстванныб квинтет СССР вв делам нзобретенн11 н етнрытнй Опубликовано 15.10.81, Бюллетень № 38 Дата опубли...
873306![Масс-спектрометр Масс-спектрометр](https://img.patentdb.ru/i/200x200/f6a42b0e28f4b290581b2671a46cd5a1.jpg)
Масс-спектрометр
\. (7l ) Заявитель Ордена Ленина физико-технический институт цм . А!43*-Иоффе 1 1 (54) МАСС-СПЕКТРОМЕТР Изобретение относится к масс-спектрометрии заряженных частиц, а именно к основному узлу масс-спектрометра— анализатору заряженных. частиц по массе. Известные магнитные масс-спектрометры можно разделить на два основных класса: с однородными и неоднородными анализирующими...
873307![Электростатическая система отклонения со скорректированной аберрацией Электростатическая система отклонения со скорректированной аберрацией](https://img.patentdb.ru/i/200x200/24f0d8951b0f249c6a038e0e406c9a7f.jpg)
Электростатическая система отклонения со скорректированной аберрацией
(72) Авторы изобретения В. П. Афанасьев и Т. Я. Фишкова (71) Заявитель Ордена Ленина физике-технический институт и Х. Ф-.-Иафф9, (S4) ЭЛЕКТРОСТАТИЧЕСКАЯ СИСТЕМА ОТКЛОНЕНИЯ СО СКОРРЕКТИРОВАННОЙ АБЕРРАЦИЕЙ Изобретение относится к электронной оптике в частности к электроннолучевым приборам, и может применяться в качест ве электростатической системы отклонения пучка заряженных ча...
983819![Масс-спектрометр с тройной фокусировкой Масс-спектрометр с тройной фокусировкой](https://img.patentdb.ru/i/200x200/42a4e68237f0966678a03e90d8b06cf5.jpg)
Масс-спектрометр с тройной фокусировкой
МАСС-СПЕКТРОМЕТР С .ТРОЙНОЙ ФОКУСИРОВКОЙ, содержащий нонный источник, электромагнитный масс аналиэатор с двумя полюсами, электроста тическую систему для обеспечения фокусировки по энергии в видв электродов, пространственно совмещенных с электромагнитом , и приемник заряженных частиц отличающийся тем, что, с целью повьпиения разрешающей способности и светосилы, полюса электромагни...
1014068![Иммерсионная система для фокусировки пучка заряженных частиц Иммерсионная система для фокусировки пучка заряженных частиц](https://img.patentdb.ru/i/200x200/ec50453663265d43bb97dcfcbe05fe3f.jpg)
Иммерсионная система для фокусировки пучка заряженных частиц
ИММЕРСИОННАЯ СИСТЕМА ДЛЯ ФОКУСИРОВКИ ПУЧКА ЗАРЯЖЕННЫХ ЧАСТИЦ , содержащая последовательно, расположенные на одной оси электроды , выполненные в виде поверхностей, образующая которых параллельна оси системы, отличающаяся тем, что, с целью уменьшения аберраций и расширения диапазона регулировки формы пучка, по крайней мере один из электродов выполнен из четырех частей, при этом про...
1084912![Электростатический энергоанализатор заряженных частиц Электростатический энергоанализатор заряженных частиц](https://img.patentdb.ru/i/200x200/6d7df64d7d4a38a7165e6702b6c3efc4.jpg)
Электростатический энергоанализатор заряженных частиц
1. ЭЛЕКТРОСТАТИЧЕСКИЙ ЭНЕРГОАНАЛИЗАТОР ЭАРЯЖЕННЫХ ЧАСТИЦ, содержащий пару электродов, первый из которых выполнен в виде двугранного угла, равного f/n, где. п - целое положительное число, а второй расположен симметрично относительно плоскости , проходяшей через ребро двугранного угла и делящей его пополам, а также источник и приемник пучка заряженных частиц, расположенные с внешне...
1275587![Электростатическая отклоняющая система с совмещенными центрами отклонения и способ отклонения пучка заряженных частиц в этой системе Электростатическая отклоняющая система с совмещенными центрами отклонения и способ отклонения пучка заряженных частиц в этой системе](https://img.patentdb.ru/i/200x200/61ceafc17489b287bde3d2f78f0049b4.jpg)
Электростатическая отклоняющая система с совмещенными центрами отклонения и способ отклонения пучка заряженных частиц в этой системе
Изобретение относится к электронно-лучевым приборам и может быть использовано при разработке систем отклонения луча заряженных частиц, в частности , с помощью электростатических отклоняющих систем с одновременным отклонением в двух направлениях и совмещенными центрами отклонения, предназначенных для приборов различного назначения. Цель изобретения - тиеньюение нелинейности отклон...
1365179![Электростатическая отклоняющая система Электростатическая отклоняющая система](https://img.patentdb.ru/i/200x200/6f1001903bd5a8ecdcc2253d6cfffb3c.jpg)
Электростатическая отклоняющая система
Изобретение относится к электронной оптике и может использоваться при разработке приборов со сканированном пучка по поверхности в двух взаимноперпендикулярных направлениях. Цель изобретения - повышение чувствительности отклонения и расширение функциональных возможностей-достигается путем отклонения частиц по двум взаимно перпендикулярным направлениям. Отклоняющая система содержит...
1557603![Электростатический энергоанализатор заряженных частиц Электростатический энергоанализатор заряженных частиц](https://img.patentdb.ru/i/200x200/9f3272c6e7d84e8267512158c001f40b.jpg)
Электростатический энергоанализатор заряженных частиц
Изобретение относится к спектрометрам заряженных частиц, в частности к дисперсионным электростатическим анализаторам по энергии, и может использоваться в эмиссионной электронике, в электронной спектроскопии для химического анализа, в растровой электронной микроскопии, при исследовании поверхности твердого тела методами вторичноионной масс-спектрометрии, при исследовании в области...
1597967![Приемное устройство квадрупольного масс-спектрометра Приемное устройство квадрупольного масс-спектрометра](https://img.patentdb.ru/i/200x200/c50554b3d810622cdd7af41fd1a7c3db.jpg)
Приемное устройство квадрупольного масс-спектрометра
Изобретение относится к масс-спектрометрии и может быть использовано в приемных устройствах квадрупольных и монопольных масс-спектрометров для транспортировки пучков в различного рода детекторные системы. Целью изобретения является расширение функциональных возможностей за счет увеличения возможного количества входов, улучшение чувствительности и уменьшение габаритов, Устройство...
1677779![Электронная пушка с отклоняющей системой и способ формирования электростатического поля в отклоняющей системе Электронная пушка с отклоняющей системой и способ формирования электростатического поля в отклоняющей системе](https://img.patentdb.ru/i/200x200/60121723f241f8dd43078c6de0340c2f.jpg)
Электронная пушка с отклоняющей системой и способ формирования электростатического поля в отклоняющей системе
Изобретение относится к электроннооптическим системам, в частности к системам формирования электронного пучка И сканирования им поверхности образца. Изобретение предназначается для целей методики дифракции медленных электронов , а также оже-спектроскопии и растровой электронной микроскопии. Цель изобретения - уменьшение размера электронного пятна на образце, повышение плотности т...
1729247