PatentDB.ru — поиск по патентным документам

ЛАПУШКОВ ВЯЧЕСЛАВ МИХАЙЛОВИЧ

Изобретатель ЛАПУШКОВ ВЯЧЕСЛАВ МИХАЙЛОВИЧ является автором следующих патентов:

Способ определения типа проводимости полупроводниковых минералов

Способ определения типа проводимости полупроводниковых минералов

  Союз Советских Социалистицеских Республик ОП ИСАНИЕ ИЗОБРЕТЕН ИЯ К АВТОРСКОМУ СВИДВТИЛЬСТВУ (61) Дополнительное к авт. свид-ву(22) Заявлен%5.03.77 (21) 2466486/18-25 (11) 621997 (51) M. Кл. 5 01 и 25/32 с присоединением заявки №вЂ” Гасударственный намитет Совета Министров CGCP во делам изобретений и отнрьпий (23) Приоритет— (43) Опубликовано 30.08.78.Бюллетень №32 (4б) Да...

621997


Устройство для измерения коэффициента термоэдс минералов

Устройство для измерения коэффициента термоэдс минералов

  Союз Советских Соцналнстическнх Республик К АВТОРСКОМУ СВИ ТЕЛЬСТВУ (61) Дополнительное к авт. саид-ву— (22) Заявлено 05.12.79 (21) 2847841/18-25 с присоединением заявки М (5I)М. Кл.Q 01 25/32 Государственный комитет (23) Приоритет Опубликовано 30.08.81. итллетеиь J4 32 Дата опубликования описания 01,09.8 1 оо делам изобретений и открытий (53) УДК 539. . 219. 1 (088.8) (7...

859894

Устройство для определения типа проводимости полупроводниковых минералов

Устройство для определения типа проводимости полупроводниковых минералов

  ОП ИСАНИЕ И ЗОбРЕТЕН ИЯ К АВТОРСКОМУ СВИДЕТЕЛЬСТВУ 868512 Союз Советских Социалистических Респубпии (6l ) Двнолнительиое к авт. свид-вуf 22) Заявлено 07.01.80 (23) 2866597/18-25 (5!)М. Кл. Я 018 25/32 с присоедииеииехт заявки 34 Гоеударетеенный комитет СССР по делам изабретехяй я открытий (23 ) Приоритет Опубликовано 30.09.81. Бюллетень М 36 (53) УДК 536 532 (088 8) Дата о...

868512

Способ оценки совершенства кристаллического строения минералов

Способ оценки совершенства кристаллического строения минералов

  СПОСОБ ОЦЕНКИ СОВЕРШЕНСТВА КРИСТАЛЛИЧЕСКОГО СТРОЕНИЯ МИНЕРАЛОВ, при котором измеряют параметры изучаемого и эталонного образцов и по полученной степени совершенства кристаллического строения эталонного образца от измеряемых параметров оценивают степень совершенства кристаллического строения исследуемого образца, отличающийс я тем, что, с целью увеличения производительности труда,...

1117516