PatentDB.ru — поиск по патентным документам

НОСКОВ ЮРИЙ АЛЕКСЕЕВИЧ

Изобретатель НОСКОВ ЮРИЙ АЛЕКСЕЕВИЧ является автором следующих патентов:

Вихретоковый дефектоскоп

Вихретоковый дефектоскоп

  К АВТОРСКОМУ СВИДЕТЕЛЬСТВУ (61) Дополнительное н авт, свид-ву (22) Заявлено 050377 (21) 2459731/25-28 с присоединением заявки № (23) Приоритет {43) Опубликовано 25.1278, Ьюллетень №47 (45) Дата опубликования описания 251278 (5!) М;-Мл-. ---G 01 N 27/86 I îñóäàðñòâåííûé комитет Совета Министров СССР ио делам изобретений и открытий (53) УДК б20.179.14 (088. 8) (72) Авторы иаоб...

638887

Устройство для очистки проволоки

Устройство для очистки проволоки

  УСТЮЙСТВО ДЛЯ ОЧИСТКИ ПРОВОЛОКИ, содержащее плоское основание с расположенн 1ми на нем со стороны входа проволоки очистными элементами для механического удаления с поверхности проволоки загрязнений, отличающееся тем, что, с целью повышения качества очистки, очистные элементы выполнены в виде не менее одной пары пластин, «свободно установленной на плоском основанни с возможностью...

1161213

Фокусирующий рентгеновский монохроматор

Фокусирующий рентгеновский монохроматор

  Изобретение относится к аппаратуре , предназначенной для рентгеноспектрального и рентгеноструктурного анализа материалов. С целью повышения оперативности перестройки монохроматора изгибающее устройство монохроматора выполнено в виде равноплечего пантографа. Кристаллическая пластина 1монохроматора расположена между двумя обжимающими пластинами из материала , упругие свойства котор...

1257483

Устройство для измерения поперечных размеров микрообъектов

Устройство для измерения поперечных размеров микрообъектов

  Изобретение относится к измерительной технике. Цель изобретения возможность непрерывного измерения поперечных размеров микрообъекта в процессе его производства. Луч лазера 1, попадая на контролируемый объект 7, образует позади него в дальней зоне дифракционную картину Фраунгофера, которая анализируется с помощью пространственного фильтра, состоящего из двух половин 2 и 3, установ...

1302140

Способ измерения поперечных размеров микроизделий

Способ измерения поперечных размеров микроизделий

  Изобретение относится к измерительной технике и может быть использовано для контроля поперечных размеров длинномерных изделий, например оптического волокна . Цель изобретения - расширение видов контролируемых микроизделий за счет обеспечения контроля прозрачных микроизделий путем исключения влияния преломленного пучка на формирование дифракционной картины. Пучком лазера освещают...

1619016