ВЫСТРОПОВ ВЛАДИМИР ИВАНОВИЧ

  /, (iii656006 Союз Советскмк Соцналмстмнвстотз Ресаублми ОП ИСАНИЕ ИЗОБРЕТЕН ИЯ К АВТОРСКОМУ СВИДИТВЛЬСТВМ (61) Дополнительное к авт. свиа-ву(22) Заявлено 04.04.77 (2l) 2469241/18-25 с присоединениеи заявки ¹(23) ПриоритетОпубликовано 05.04.79.Бюллетень № 13 Дат» опубликования описання09.04.79 (5l) М. Кл. G 01 Т 1/18 G 01 f4 23/04 Гееударвтвеяквб канктет СССР ае делам кзеар...

  ОПИСАНИЕ ИЗОБРЕТЕНИЯ К АВТОРСКОМУ СВИ ИТВЛЬСТВУ Союз Советскик Социалистических теснубл 807410 (61) Дополнительное к авт. свид-ву (22) Заявлено 211177 (21) 2545778/18-25 1}М („з H 01 J 47/02 с присоединением заявки Йо Государствеииыя комитет СССР яо делам изобретений. н откратий (23) Приоритет Опубликовано 23.0231. Бюллетень Нй 7 Дата опубликования описания 09 . 03. 81 (53...

  УСТРОЙСТВО ДЛЯ ИЗМЕРЕНИЯ ТОЛЩИНЫ ПОКРЫТИЯ ИЗДЕЛИЯ, содержаще последовательно устанавливаемые по одну сторону от контролируемого объекта источник с коллиматором и детектор излучения с обхватывающей о диафрагмой, отличающ ес я тем, что, с целью повышения чности измерения покрытий изделий ременной толщины, оно снабжено раном, соосно устанавливаемым межисточником излучения и объектом...

  Изобретение относится к измерительной технике и может быть использовано при контроле толщины или поверхностной плотности. Целью изобретения является повышение точности из-мерения путем устранения влияния перекрытия аппаратурных пиков реперного и отраженного излучений, что особенно важно, если в качестве реперного пика берется пик от излучения первичного источника. Об измеряемой т...

  Изобретение относится к измерению ядерных и рентгеновских лучей с., помощью спектрометрических детекторов и может быть использовано в приборах рентгенофлуоресцентного анализа материалов или толщинометрии изделий . Цель изобретения - повышение устойчивости стабилизации к воздействию излучения дополнительного пика .переменной интенсивности, амплитудное распределение импульсов котор...

  Изобретение относится к измерительной технике и может быть использовано в устройстве бесконтактного измерения толщины покрытий в технологических линиях различных отраслей. Целью изобретения является повышение точности измерения толщины покрытия на основаниях переменной толщины. Цель достигается за счет улучшения анализа информации, получаемой от датчика. С выхода дифференциальног...

  Изобретение относится к измерительной технике и может быть использовано н приборах неразрушающего контроля технологических параметров, например поверхностной плотности или толщины покрытий различных изделий. Целью изобретения является повьше ние точности измерения толщины пок крытия на подложках переменной толщины путем автоматической компенсации дополнительного возбуждения флуор...

  Изобретение относится к измерительной технике и может быть использовано в приборах неразрушающего контроля технологических параметров, например поверхностной плотности или толщины покрытий различных изделий. Целью изобретения является повыщение точности на краях диапазона измеряемых толщин путем выбора оптимальных характеристик первичного излучения при регистрации спектра рассеян...

  Изобретение относится к контрольно-измерительной технике и может быть использовано в устройствах бесконтактного измерения толщины покрытий с использованием флуоресцентного излучения материала покрытия. Целью изобретения является расширение функциональных возможностей толщиномера и повышение точности измерений толщины покрытия на основаниях переменной толщины путем учета эффекта д...

  Изобретение относится к контрольно-измерительной технике. Целью изобретения является расширение функциональных возможностей и повышение точности измерений путем обеспечения оперативной перестройкой толадномера на измерение покрытий иного состава, чем то, на которое он / строен , и повышение производительности настройки путем оптимальной настройки каналов флуоресцентного и реперно...