PatentDB.ru — поиск по патентным документам

ЗВЕРЕВА ВАЛЕРИЯ ВАДИМОВНА

Изобретатель ЗВЕРЕВА ВАЛЕРИЯ ВАДИМОВНА является автором следующих патентов:

Устройство для регистрации вольтфарадных характеристик

Устройство для регистрации вольтфарадных характеристик

  Союз Советскик Социалистических Республик (61) Дополнительное к авт. свид-sy (51)И. Кл, (22j Заявлено 270477 (2I) 2481482/18-25 G 01 P 31/26 G 01 Н 27/26 с присоединением заявки № Государственный комитет СССР по делам изобретений и открелтнй (25 j Г(риоритет (53) УДК621 882 .2 (088„8) (-)публиковвно 2 50 4.79, Б.оллетень ¹ 15 Дата опубликования описания 50 4.79 (72) Авторы из...

658508

Устройство для регистрации параметров мдп-структур

Устройство для регистрации параметров мдп-структур

  „.SU„„1 А СОЮЗ СОВЕ СНИХ СОЦИАЛИСТИЧЕСНИХ РЕСПУБЛИИ ГОСУДАРСТВЕННЫЙ HOMHTET СССР Il0 ДЕЛАМ ИЗОБРЕТЕНИЙ И ОТНРЫТИЙ .:®Ц;;. q f: Х ОПИСАНИЕ ИЗОБРЕТЕНИЯ Н ABTOPGHOMV СВИДЕТЕЛЬСТВУ (21) 3379431/18-21 .(22) 06.01.82 (46 ) 15.09.83. .Бюл. У 34 (72) С. Ш. Балтянский, A. A. Богородицкий, В. В. Зверева, A. A. Мельников, Ю. H. Михеев, Н. В. Морозов; В. Ф. Рыжов, В. И. Рябинин, С....

1041967

Устройство для измерения параметров мдп-структур

Устройство для измерения параметров мдп-структур

  УСТРОЙСТВО ДЛЯ ИЗМЕРЕНИЯ ПАРАМЕТРОВ МДП-СТРУКТУР, содержащее генератор синусоидального напряжения и источник смещения, подключённые соответственно к первому и второму входам первого сумматора, выход которого соединен с первой клеммой , для--подключения испытуемой структуры , вторая клеьфла для подключения испытуемой структуры соединена с входсм усилителя, между входом и выходом к...

1100590

Устройство для регистрации параметров мдп-структур

Устройство для регистрации параметров мдп-структур

  Изобретение относится к электронной технике. Может быть использовано для проведения контроля качества и исследования параметров полупроводниковых и МДП- структур в процессе производства интегральных схем на их основе. Целью изобретения является повышение точности измерения. Достигается за счет устранения влияния проводимости подложки на результат компенсации емкости диэлектрика,...

1247795

Устройство для контроля деградации мдп-структур

Устройство для контроля деградации мдп-структур

  Использование: электронная техника, в частности контроль качества и исследование параметров МДП-структур в процессе производства интегральных схем. Сущность изобретения: расширение функциональных возможностей и повышение быстродействия путем адаптации скорости роста напряжения на МДП-структуре к величине этого напряжения за счет введения блока управления , двух пиковых детекторов...

1783454