СУМИНОВ В.М.
Изобретатель СУМИНОВ В.М. является автором следующих патентов:

Способ фокусировки оптической системы
СПОСОБ ФОКУСИРОВКИ ОПТИЧЕСКОЙ СИСТЕМЫ, преимущественно для обработки прецизионных деталей, основанный на получении рассеивающих структур, перемещающихся относительно изображения в зоне измерения.заключающийся в том, что, изменяя расстояние между оптической системой и плоскостью зоны измерения, сохраняя при этом постоянным угол падения светового луча, добиваются оптимизации размеро...
680460
Способ измерения шероховатости поверхности
СПОСОБ ИЗМЕРЕНИЯ ШЕРОХОВАТОСТИ ПОБЕРХНОСТИ, заключающийся в том, что луч когерентного монохроматического света направляют на исследуемую поверхность под заданным углом и анализируют интенсивность диффузной составляющей отраженного светового поля при взаимном перемещении луча и исследуемой поверхности, отличающийся тем, что, с целью расширения диапазона измеряемых высот микронеров...
766225
Устройство для балансировки роторов
1. УСТРОЙСТВО ДЛЯ БАЛАНСИРОВКИ РОТОРОВ, содержащее основание, оптическую систему,выпоилненную в виде корпуса с двумя светопроводящими каналами, установленного на основании с возможностью вращения,, нерегулируемых оптических элементов, закрепленных в каналах, и регулируемого оптического элемента, а также оптический квантовый генератор, размещенный на основании, отличающееся тем, ч...
772361
Устройство для контроля дефектов оптических деталей
УСТРОЙСТВО ДЛЯ КОНТРОЛЯ ДЕФЕКТОВ ОПТИЧЕСКИХ ДЕТАЛЕЙ, содержащее лазер, последовательно установленные по ходу излучения фокусирующую линзу, плоское отражающее зеркало, блок сканирования, фотоприемник и блок регистрации, отличающееся тем, что, с целью повьпиения чувствительности и оперативности контроля, в него дополнительно введен селективный фильтр в виде вогнутого зеркгша с отве...
864968
Способ измерения шероховатости изделий
СПОСОБ ИЗМЕРЕНИЯ ШЕРОХОВАТОСТИ ПОВЕРХНОСТИ ИЗДЕЛИЯ,.заключающийся в ТОМ| что направляют луч лазера на исследуемую поверхность . под углом, наблюдают дифракционную картину в плоскости, перпендикулярной лучу, отраженному от исследуемой поверхности, выделяют на дифракционной картине .в диффузной зоне единичный элемент, перемещают с постояН ной скоростью изделие в направлении, паралл...
1040895