ЛЮБЕЦКИЙ НИКОЛАЙ ВАСИЛЬЕВИЧ
Изобретатель ЛЮБЕЦКИЙ НИКОЛАЙ ВАСИЛЬЕВИЧ является автором следующих патентов:
Способ измерения толщины тонких пленок на подложках
Союз Советских Социалистииеских Республик ОП ИСАНИЕ ИЗОБРЕТЕН ИЯ К АВТОРСКОМУ СВИДЕТЕЛЬСТВУ (61) Дополнительное к авт. свид-ву— (22) Заявлено 20.07.77 (21) 2514557/25-28 с присоединением заявки №вЂ” (23) Приоритет— Госудзрстеениый кеметет СССР по делам нзеоретееей и открытий Опубликовано 05.09.79. Бюллетень №33 Дата опубликования описания 15.09.79 (72) Авторы изобрете...
684299Устройство для контроля тонкихпленок
ОПИСАНИЕ ИЗОБРЕТЕНИЯ Союз Советских Социалистических Республик и >815484 К АВТОРСКОМУ СВИДЕТЕЛЬСТВУ (61) Дополнительное к авт. свид-ву— (22) 3аявлеио 19. 09. 78 (23) 2664177/25-28 (53)М. Кл. с присоединением заявки ¹â€”.G 01 В 11/06 Государственный комитет СССР по делам изобретений н открытий (23) Приоритет Опубликовано 2303.81. Бюллетень N9 11 Дата опубликования описания...
815484Устройство для измерения диэлектрической проницаемости веществ
УСТРОЙСТВО ДЛЯ ИЗМЕРЕНИЯ ДИЭЛЕКТРИЧЕСКОЙ ПРОНИЦАЕМОСТИ ВЕЩЕСТВ , содержащее генератор электромагнитного излучения, к выходу которого подсоединен поляризатор, а также последовательно соединенные анализатор, приемник излучения и регистратор , отличающееся тем, что, с целью повышения точности измерений, на оптической оси между поляризатором и анализатором установлены два делителя лу...
1045167Способ частотно-модуляционной эллипсометрии
СПОСОБ ЧАСТОТНО-МОДУЛЯЦИОННОЙ ЭЛЛИПСОМЕТРИИ, при осуществлении которого направляют электромагнитное излучение с заданным состоянием поляризации на исследуемый образец, провзaи 4oдeйcтвoвaвшee с исследуемым образцом излучение разделяют на два пучка ортогональными плоскостями поляризаций и регистрируют изменение состояния поляризации провзаимодействовавшего с исследуемым образцом и...
1060955Устройство для измерения диэлектрической проницаемости материалов,покрытых защитной диэлектрической пленкой
СОЮЗ СОВЕТСКИХ СОЦИАЛИСТИЧЕСКИХ РЕСПУБЛИК (я) Э 01 27/26 ОПИСАНИЕ ИЗОБРЕТЕНИЯ ГОСУДАРСТВЕННЫЙ КОМИТЕТ СССР пO делАм изОБРетений и ОткРытий К ABTOPCHOMY СВИДЕТЕЛЬСТВУ (21) 3514831/18-21 (22) 26.11.82 (46) 07.02.84. Вюл. Р 5 (72) В.А.Ьонев, Н.В.Любецкий, П.H.Пунько и С.A.Tèõàíîâè÷ (71) Институт прикладной физики AH Белорусской ССР (53) 621.317.337 (088,8) (56) 1.Известия вузо...
1071973Устройство для измерения толщины диэлектрических покрытий металлов
УСТРОЙСТВО ДЛЯ ИЗМЕРЕНИЯ ТОЛЩИНЫ даЭЖКТРИЧЕСКИХ ПОКРШИЙ МЕТАЛЛОВ , содержащее СВЧ reHepafop, к , выходу которого подсоединен поляризатор волны, облучающий исследуемо е .диэлектрическое покрытие, а также последовательно соединенные непрерьнвный вращатель плоскости поляризация, анализатор волны, отраженной от исследуемого диэл1ектрического покрыгня, детектор и экстрематор, еык0ды к...
1103069Способ определения глубины залегания расслоений в диэлектрических материалах
СОЮЗ СОВЕТСКИХ СООИАЛИСТИЧЕСНИХ РЕСПУБЛИН (м 4 G 01 И 22/02 ОПИСАНИЕ ИЗОБРЕТЕНИЯ ГОСУДАРСТВЕННЫЙ КОМИТЕТ СССР ПО ДЕЛАМ ИЗОБРЕТЕНИЙ И ОТНРЫТИЙ Н ABTOPCHOMV СВИДЕТЕЛЬСТВУ (21) 3911695/24-09 (22) 11.06.85 (46) 15.10.86.Бюл. У 38 (71) Институт прикладной физики АН БССР (72) В.А.Конев, Н.В.Любецкий, В.Н.Цвирко и С.А.Тиханович {53) 621.317 ° 39(088.8) (56) Неразрушающие физичес...
1264052Модулятор поляризации
Изобретение относится к технике КВЧ и может использоваться в .метрологических устр-вах и системах. Цель изобретения - повышение точности и глубины модуляции. Модулятор поляризации состоит из диэл. элемента в виде полой призмы (ПП) 1, входного и выходного лучеводов 2, 3, соединенных с боковыми гранями ПП 1, соленоида 4, стакана 5, заполненного магнитной жидкостью 6, и .металлическ...
1298812Устройство для измерения толщины диэлектрических покрытий
Изобретение может использоваться в радиотехнике, электронике и обеспечивает повышение точности. Устр-во содержит СВЧ-генератор 1,модулятор 2, поляризатор 3, исследуемое диэл. покрытие (ИДП) 4, анализатор 5 волны, отраженной от ИДП 4,измеритель отношений 9, блок выборкихранения 10, сумматор 11, блок сравнения 12, вычислитель 13, блок управления 14 и генератор тактовых импульсов 15...
1318938Ячейка для измерения диэлектрической проницаемости материалов
Изобретение обеспечивает повышение точности измерений диэл. проницаемости анизотропных диэлектриков. Ячейка содержит линзу, вьшолненную из диэл. материала в форме правильной четырехугольной пирамиды (ПЧП) 1, на смежных боковых поверхностях которой расположены диэл.стаканы (ДС) 2, 3 для подключения стандартных лучеводов. Исследуемый образец (ИО) помещается на основании ПЧП 1. Чере...
1322194Устройство для измерения толщины диэлектрических покрытий металлов
Изобретение относится к измерительной технике. Цель изобретения - повышение точности измерения. Устройство содержит источник 1 излучения, волноводно-лучевые переходы 2 и 3, уголковый СВЧ-переход 4, образованный двумя отрезками линии передачи и отражателем, в качестве которого используется исследуемое диэлектрическое покрытие 12 металла, СВЧ-детектор 5 излучения, селективный усилит...
1506387Частотно-поляризационный способ контроля анизотропии диэлектрических листовых материалов
Изобретение относится к технике измерений на СВЧ и может быть использовано для неразрушающего контроля электрофизических параметров диэлектрических листовых и пленочных материалов в химической, радиотехнической, электронной и других областях техники. Целью изобретения является повышение точности. Частотно-поляризационный способ контроля анизотропии заключается в облучении контрол...
1642339Устройство для электронного сканирования луча электромагнитной свч-волны
Изобретение относится к радиолокационной технике и может быть использовано в различных радиосистемах миллиметрового и субмиллиметрового диапазона волн. Цель изобретения - обеспечение возможности сканирования луча по двум координатам в плоскости апертуры и повышение быстродействия. Устройство содержит источник 1 СВЧ-излучения, прямоугольные диэлектрические волноводы 2 и 3 со скошен...
1665438Способ измерения толщины диэлектрических покрытий металлов и устройство для его осуществления
Изобретение относится к измерительной технике и может быть использовано для неразрушающего контроля толщины композиционных покрытий металлов. Целью изобретения является повышение точности и чувствительности. Способ позволяет повысить точность при высокой локальности измерений за счет возбуждения в диэлектрическом волноводе двух ортогонально поляризованных волн и использования пол...
1753379