PatentDB.ru — поиск по патентным документам

ЛЮБЕЦКИЙ НИКОЛАЙ ВАСИЛЬЕВИЧ

Изобретатель ЛЮБЕЦКИЙ НИКОЛАЙ ВАСИЛЬЕВИЧ является автором следующих патентов:

Способ измерения толщины тонких пленок на подложках

Способ измерения толщины тонких пленок на подложках

  Союз Советских Социалистииеских Республик ОП ИСАНИЕ ИЗОБРЕТЕН ИЯ К АВТОРСКОМУ СВИДЕТЕЛЬСТВУ (61) Дополнительное к авт. свид-ву— (22) Заявлено 20.07.77 (21) 2514557/25-28 с присоединением заявки №вЂ” (23) Приоритет— Госудзрстеениый кеметет СССР по делам нзеоретееей и открытий Опубликовано 05.09.79. Бюллетень №33 Дата опубликования описания 15.09.79 (72) Авторы изобрете...

684299

Устройство для контроля тонкихпленок

Устройство для контроля тонкихпленок

  ОПИСАНИЕ ИЗОБРЕТЕНИЯ Союз Советских Социалистических Республик и >815484 К АВТОРСКОМУ СВИДЕТЕЛЬСТВУ (61) Дополнительное к авт. свид-ву— (22) 3аявлеио 19. 09. 78 (23) 2664177/25-28 (53)М. Кл. с присоединением заявки ¹â€”.G 01 В 11/06 Государственный комитет СССР по делам изобретений н открытий (23) Приоритет Опубликовано 2303.81. Бюллетень N9 11 Дата опубликования описания...

815484

Устройство для измерения диэлектрической проницаемости веществ

Устройство для измерения диэлектрической проницаемости веществ

  УСТРОЙСТВО ДЛЯ ИЗМЕРЕНИЯ ДИЭЛЕКТРИЧЕСКОЙ ПРОНИЦАЕМОСТИ ВЕЩЕСТВ , содержащее генератор электромагнитного излучения, к выходу которого подсоединен поляризатор, а также последовательно соединенные анализатор, приемник излучения и регистратор , отличающееся тем, что, с целью повышения точности измерений, на оптической оси между поляризатором и анализатором установлены два делителя лу...

1045167

Способ частотно-модуляционной эллипсометрии

Способ частотно-модуляционной эллипсометрии

  СПОСОБ ЧАСТОТНО-МОДУЛЯЦИОННОЙ ЭЛЛИПСОМЕТРИИ, при осуществлении которого направляют электромагнитное излучение с заданным состоянием поляризации на исследуемый образец, провзaи 4oдeйcтвoвaвшee с исследуемым образцом излучение разделяют на два пучка ортогональными плоскостями поляризаций и регистрируют изменение состояния поляризации провзаимодействовавшего с исследуемым образцом и...

1060955

Устройство для измерения диэлектрической проницаемости материалов,покрытых защитной диэлектрической пленкой

Устройство для измерения диэлектрической проницаемости материалов,покрытых защитной диэлектрической пленкой

  СОЮЗ СОВЕТСКИХ СОЦИАЛИСТИЧЕСКИХ РЕСПУБЛИК (я) Э 01 27/26 ОПИСАНИЕ ИЗОБРЕТЕНИЯ ГОСУДАРСТВЕННЫЙ КОМИТЕТ СССР пO делАм изОБРетений и ОткРытий К ABTOPCHOMY СВИДЕТЕЛЬСТВУ (21) 3514831/18-21 (22) 26.11.82 (46) 07.02.84. Вюл. Р 5 (72) В.А.Ьонев, Н.В.Любецкий, П.H.Пунько и С.A.Tèõàíîâè÷ (71) Институт прикладной физики AH Белорусской ССР (53) 621.317.337 (088,8) (56) 1.Известия вузо...

1071973


Устройство для измерения толщины диэлектрических покрытий металлов

Устройство для измерения толщины диэлектрических покрытий металлов

  УСТРОЙСТВО ДЛЯ ИЗМЕРЕНИЯ ТОЛЩИНЫ даЭЖКТРИЧЕСКИХ ПОКРШИЙ МЕТАЛЛОВ , содержащее СВЧ reHepafop, к , выходу которого подсоединен поляризатор волны, облучающий исследуемо е .диэлектрическое покрытие, а также последовательно соединенные непрерьнвный вращатель плоскости поляризация, анализатор волны, отраженной от исследуемого диэл1ектрического покрыгня, детектор и экстрематор, еык0ды к...

1103069

Способ определения глубины залегания расслоений в диэлектрических материалах

Способ определения глубины залегания расслоений в диэлектрических материалах

  СОЮЗ СОВЕТСКИХ СООИАЛИСТИЧЕСНИХ РЕСПУБЛИН (м 4 G 01 И 22/02 ОПИСАНИЕ ИЗОБРЕТЕНИЯ ГОСУДАРСТВЕННЫЙ КОМИТЕТ СССР ПО ДЕЛАМ ИЗОБРЕТЕНИЙ И ОТНРЫТИЙ Н ABTOPCHOMV СВИДЕТЕЛЬСТВУ (21) 3911695/24-09 (22) 11.06.85 (46) 15.10.86.Бюл. У 38 (71) Институт прикладной физики АН БССР (72) В.А.Конев, Н.В.Любецкий, В.Н.Цвирко и С.А.Тиханович {53) 621.317 ° 39(088.8) (56) Неразрушающие физичес...

1264052

Модулятор поляризации

Модулятор поляризации

  Изобретение относится к технике КВЧ и может использоваться в .метрологических устр-вах и системах. Цель изобретения - повышение точности и глубины модуляции. Модулятор поляризации состоит из диэл. элемента в виде полой призмы (ПП) 1, входного и выходного лучеводов 2, 3, соединенных с боковыми гранями ПП 1, соленоида 4, стакана 5, заполненного магнитной жидкостью 6, и .металлическ...

1298812

Устройство для измерения толщины диэлектрических покрытий

Устройство для измерения толщины диэлектрических покрытий

  Изобретение может использоваться в радиотехнике, электронике и обеспечивает повышение точности. Устр-во содержит СВЧ-генератор 1,модулятор 2, поляризатор 3, исследуемое диэл. покрытие (ИДП) 4, анализатор 5 волны, отраженной от ИДП 4,измеритель отношений 9, блок выборкихранения 10, сумматор 11, блок сравнения 12, вычислитель 13, блок управления 14 и генератор тактовых импульсов 15...

1318938

Ячейка для измерения диэлектрической проницаемости материалов

Ячейка для измерения диэлектрической проницаемости материалов

  Изобретение обеспечивает повышение точности измерений диэл. проницаемости анизотропных диэлектриков. Ячейка содержит линзу, вьшолненную из диэл. материала в форме правильной четырехугольной пирамиды (ПЧП) 1, на смежных боковых поверхностях которой расположены диэл.стаканы (ДС) 2, 3 для подключения стандартных лучеводов. Исследуемый образец (ИО) помещается на основании ПЧП 1. Чере...

1322194


Устройство для измерения толщины диэлектрических покрытий металлов

Устройство для измерения толщины диэлектрических покрытий металлов

  Изобретение относится к измерительной технике. Цель изобретения - повышение точности измерения. Устройство содержит источник 1 излучения, волноводно-лучевые переходы 2 и 3, уголковый СВЧ-переход 4, образованный двумя отрезками линии передачи и отражателем, в качестве которого используется исследуемое диэлектрическое покрытие 12 металла, СВЧ-детектор 5 излучения, селективный усилит...

1506387

Частотно-поляризационный способ контроля анизотропии диэлектрических листовых материалов

Частотно-поляризационный способ контроля анизотропии диэлектрических листовых материалов

  Изобретение относится к технике измерений на СВЧ и может быть использовано для неразрушающего контроля электрофизических параметров диэлектрических листовых и пленочных материалов в химической, радиотехнической, электронной и других областях техники. Целью изобретения является повышение точности. Частотно-поляризационный способ контроля анизотропии заключается в облучении контрол...

1642339

Устройство для электронного сканирования луча электромагнитной свч-волны

Устройство для электронного сканирования луча электромагнитной свч-волны

  Изобретение относится к радиолокационной технике и может быть использовано в различных радиосистемах миллиметрового и субмиллиметрового диапазона волн. Цель изобретения - обеспечение возможности сканирования луча по двум координатам в плоскости апертуры и повышение быстродействия. Устройство содержит источник 1 СВЧ-излучения, прямоугольные диэлектрические волноводы 2 и 3 со скошен...

1665438

Способ измерения толщины диэлектрических покрытий металлов и устройство для его осуществления

Способ измерения толщины диэлектрических покрытий металлов и устройство для его осуществления

  Изобретение относится к измерительной технике и может быть использовано для неразрушающего контроля толщины композиционных покрытий металлов. Целью изобретения является повышение точности и чувствительности. Способ позволяет повысить точность при высокой локальности измерений за счет возбуждения в диэлектрическом волноводе двух ортогонально поляризованных волн и использования пол...

1753379