PatentDB.ru — поиск по патентным документам

ЗУЕВ Б.К.

Изобретатель ЗУЕВ Б.К. является автором следующих патентов:

Способ локального анализа газообразующих примесей в твердых веществах

Способ локального анализа газообразующих примесей в твердых веществах

  СОЮЗ СОВЕТСНИХ СОЦИАЛИСТИЧЕСКИХ РЕСПУБЛИН ОПИСЛНИЕ ИЗОВРЕтеииЯ К А ВТОРСНОМУ СВИДЕТЕЛЬСТВУ ГОСУДАРСТВЕННЫЙ КОМИТЕТ ПО ИЗОБРЕТЕНИЯМ И OTHPbfTHRM flPH ГКНТ СССР 1 (21 ) 251 t 294/25 (22) 22.07. 77 (46) 30.05.92. Бюл. 20 (71) Институт геохимии и аналитичес.кой химии им. В.И, Вернадского (72) Б.К. Зуев, Г.В. Михайлова, . Q.А. Кулаков, Л,Л, Кунин и А.M. Вассерман (53) 621.3"4(...

687930

Способ локального определения концентрации газообразующих примесей

Способ локального определения концентрации газообразующих примесей

  -Изобретение относится к области аиалитического приборостроения. Цель изобретения - расширение функциональных возможностей. Она достигается тем, что по способу локального определения концентрации газообразуилдих примесей фольгу (Ф) из кислородсодержащего материала располагают над исследуемой поверхностью, дают два лазерных импульса, один из которьк разрушает Ф до образования скво...

1316484

Устройство для локального определения концентрации газообразующих примесей

Устройство для локального определения концентрации газообразующих примесей

  Изобретение может быть использовано в аналитической практике для определения распределения содержания, например, углерода в твердых материалах; Цель изобретения - расширение функциональных возможностей устройства. Электронный блок 9 управления формирует сигналы, подаваемые, .на узел 5 ввода кислорода и лазерный микроскоп 4. Первый импульс блока 9 управления служит для подачи порц...

1365988

Способ калибровки газоаналитических систем по азоту

Способ калибровки газоаналитических систем по азоту

  Изобретение может быть использовано в методах газового анализа, нанапример, в масс-спектрометрии. Способ калибровки газоаналитических систем по азоту реализован в устройстве. Стальную пластину 1 с ннтродотнтановым покрытием /НТП/ 2 толщиной 1 - i О мкм помещают s камеру 3 с оптичес кям окном 4. Производят лазерный импульс , который переводит в газовую фазу локальный участок покры...

1417607

Способ подготовки пробы для элементного анализа твердых тел

Способ подготовки пробы для элементного анализа твердых тел

  Изобретение относится к аналитической химии и может быть йспользовано как для локального, так и для валового анализа вещества. Цель изобретения - повышение экспресности и информативности путем локального пробоотбора. Для перевода в раствор образец помещают в раствор подходящего реагента, образующего растворимое соединение с определяемым элементом . Затем образец подвергается импу...

1551065


Способ определения распределения плотности потока ионных пучков

Способ определения распределения плотности потока ионных пучков

  Изобретение относится к технике измерений параметров ионных пучков. Целью изобретения является повышение точности определения и расширение диапазона определяемых плотностей. Цель достигается тем. что в вакуумной камере, где размещают пластину пробного образца, подвергаемого облучению, после облучения его исследуемым пучком осуществляют лазерный пробоотборс регистрацией выделенных...

1685172