КОРАБЛЕВ ВАДИМ ВАСИЛЬЕВИЧ
Изобретатель КОРАБЛЕВ ВАДИМ ВАСИЛЬЕВИЧ является автором следующих патентов:
![Бесконтактный способ измерения температуры полупроводников Бесконтактный способ измерения температуры полупроводников](https://img.patentdb.ru/i/200x200/91cf798d42b8a6833d1f3efd231800a5.jpg)
Бесконтактный способ измерения температуры полупроводников
лтт - ккл О П И CАИИ Е ЙЗО6Р Е 1 у Я ii ц 694774 Союз Советских Социалистических Республик К АВТОРСКОМУ СВИДЕТЕЛЬСТВУ (61) Дополнительное к авт. свпд-ву (22) Заявлено 19.05.78 (21) 2618192/18-25 с присоединением заявки № (23) Приоритет (43) Опубликовано 30.10.79. Бюллетень № 40 (45) Дата опубликования описания 30.10.79 (51) M. Кл."G 01J 5/58 Государственный комитет (53) УДК...
694774![Способ определения средней длины свободного пробега электронов в веществе Способ определения средней длины свободного пробега электронов в веществе](https://img.patentdb.ru/i/200x200/c7a57e8d2182deae1554f8cffe6cc66c.jpg)
Способ определения средней длины свободного пробега электронов в веществе
Изобретение относится к методам исследования поверхности твердых тел с помощью электронных пучков и может быть использовано для проведения количественных измерений элементного состава поверхности методами ожеспектроскопии , рентгеновского микроанализа , фотоэлектронной спектроскопии. Целью изобретения является обеспечение возможности одновременного определения средних длин свобод...
1239570