ФАК ИОСИФ ИЦКЕВИЧ
Изобретатель ФАК ИОСИФ ИЦКЕВИЧ является автором следующих патентов:
Устройство к ультразвуковому дефектоскопу для измерения коэффициента формы дефекта
пА1етц на технн4еохая а ат А Союз Советских Социалистических Республик О П К АВТОРСКОМУ СВИДЕТЕЛЬСТВУ (61) Дополнительное к авт. свид-ву (22) Заявлено 05.05.78 (21) 2611149/25 — 28 с присоединением заявки М (51)М. Кл. G 01 и 29/04 Гввударствелвьй квивтет СССР яв делам язвбрвтвнев я вткрмтв» Ъ (23) П риоритет Опубликовано 05.11.79. Бюллетень М 41 Дата опубликования описан...
696375