ОСАДЧЕВ ЛЕОНИД АЛЕКСЕЕВИЧ
Изобретатель ОСАДЧЕВ ЛЕОНИД АЛЕКСЕЕВИЧ является автором следующих патентов:
![Гетеродинный способ измерения изменения оптического пути Гетеродинный способ измерения изменения оптического пути](https://img.patentdb.ru/i/200x200/fbd00b33e32afc179d314c56fae81a68.jpg)
Гетеродинный способ измерения изменения оптического пути
ОПИСАНИЕ ИЗОБРЕТЕНИЯ К АВТОРСКОМУ СВИДЕТЕЛЬСТВУ (iii 715929 Союз Советских Социалистических Республик (61) Дополнительное к авт. свид-ву (22) Заявлено 10.04.78 (21) 2603023/18-25 (51)М. Кл. 6 01 В 9/02 с присоединением заявки М— (23) Приоритет ай«)9Р9«тн«ннЫ к«мнтвт СИР 6« д«лам нз«бретеннй н «тнрьпня, Опубликованв 15.02.80. Бюллетень М 6 г (53) УДК 535.411 (088.8) Дата...
715929![Планарный оптический волновод Планарный оптический волновод](https://img.patentdb.ru/i/200x200/a310913789bffa1ab599a153a66540cc.jpg)
Планарный оптический волновод
Союз Советских Социалистических Республик ОПИС ИЗОБРЕ К АВТОРСКОМУ 771778 (63) Дополнительное к (22) Заявлено 19,06.78 с присоединением заяв (23) Приоритет Опубликовано 151 Дата опубликовани М. Кл. Н 01 Р 3/16 Государственный комитет СССР по делам изобретений н открытий УДК 62 1. 3 72 (088. 8) (72) Авторы изобретения Г. С. Беликова, Л. М. Беляев, A. И. Гудзенко, Л. Н. Де...
771778![Акустооптический дефлектор Акустооптический дефлектор](https://img.patentdb.ru/i/200x200/d200056ce39b0c1f25e86f4d1a4e55a6.jpg)
Акустооптический дефлектор
(»>911437 ОП ИСАНИЕ ИЗОБРЕТЕН ИЯ К АВТОРСКОМУ СВИДЕТЕЛЬСТВУ Союз Советскик Социалистические рес убпмк (6I ) Дополнительное к авт. свид-ву . (22) Заявлено 30 )630 (2l ) 2949775/18-25 (5l)lVL. Кл. 02- F 1 /33 с присоединением заявки № Гесудеретеаииый комитет СССР пю делам изобретений и открытий (23) Приоритет Опубликовано 070382 Бюллетень № 9 (53) УЙК535 5» (088.8) Дата опубл...
911437![Устройство для измерения фактической площади контакта Устройство для измерения фактической площади контакта](https://img.patentdb.ru/i/200x200/c5b123e46f42130dc780b985dcd015fb.jpg)
Устройство для измерения фактической площади контакта
ОП ИСАНИЕ ИЗОБРЕТЕНИЯ К АВТОРСКОМУ СВИДЕТЕЛЬСТВУ к 968608 Сеюэ Советских Социалистических Республик (61) Дополнительное к авт. свид-ву-(И) М. Кп. G 01 В 11/28 (22) Заявлено 29 ° 04 ° 80 (21) 2917767/25-28 с присоединением заявки ¹ Государственный ноинтет СССР но делам нзобретеннй н открытнй (23) Приоритет(331УДК531 ° 721 (088.43) Опубликовано 23.10.82. Бюллетень ¹ 39 Дата...
968608![Устройство для измерения перемещений объекта Устройство для измерения перемещений объекта](https://img.patentdb.ru/i/200x200/af7fcbdbc081284411279ac0cd51aa42.jpg)
Устройство для измерения перемещений объекта
ОПИСАНИЕ ИЗОБРЕТЕНИЯ К АВТОРСКОМУ СВИДЕТЕЛЬСТВУ Союз Советских Социалистических Республик (u>991154 (61) Дополнительное к авт. свмд-ву а 913055 (22) Заявлено 290681 (21)3310291/25-28 (1jМ Яд 3 G 01 В 9/02 с присоединением заявки М— (53) УДК 531. 715. 1 (088; 8) Государственный комитет СССР по делам изобретений и открытий (23) Приоритет Опубликовано 230183. Бюллетень Но3...
991154![Устройство для измерения размеров взвешенных в жидкости частиц Устройство для измерения размеров взвешенных в жидкости частиц](https://img.patentdb.ru/i/200x200/9657b4bac6b47f44390396f818266d14.jpg)
Устройство для измерения размеров взвешенных в жидкости частиц
УСТРОЙСТВО ДЛЯ ИЗМЕРЕНИЯ РАЗМЕРОВ ВЗВЕШЕННЫХ В ЖИДКОСТИ ЧАСТИЦ , :одержащее цилиндрический канал , источник излучения, оптическая .,.о..;--., -,-:;«. ось которого совпадает с осью канала , линзу и фотоприемник, воспринимающий рассеянное исследуемой частицей излучение, отличающееся тем, что, с целью повышения точности измерений за счет -увеличения телесного угла сбора рассеянного...
1078283![Способ измерения размеров частиц Способ измерения размеров частиц](https://img.patentdb.ru/i/200x200/67e899b6e3538ac7788d6a88d62dae7a.jpg)
Способ измерения размеров частиц
1. СПОСОБ ИЗМЕРЕНИЯ РАЗМЕРОВ ЧАСТИЦ, включающий формирование потока прозрачной среды с частицами, освещение этого потока параллельным и соосным с ним пучком света, выдег ление с помощью приемной оптической системы измерительного объема, регистрацию рассеянного света от отдельных частиц в измерительном объеме , преобразование света в электрические импульсы и измерение их амплитуды...
1173264![Способ очистки поверхности деталей из титана и его сплавов от окисных пленок Способ очистки поверхности деталей из титана и его сплавов от окисных пленок](https://img.patentdb.ru/i/200x200/74e55f7e16e30cdf57332182f0b1c926.jpg)
Способ очистки поверхности деталей из титана и его сплавов от окисных пленок
Изобретение OTHOCHTQH к химической очистке металлических поверхностей , в частности деталей из титана или его сплавов от окисных пленок, может быть использовано в радиотехнической , авиационной, оптико-механической промьшшенностях. Цель изобретения - повьппение качества очистки и эффективности процесса. Окисную пленку с деталей из титановых сплавов удаляют травлением в расплаве п...
1294872![Способ измерения распределения толщины волноводной пленки и устройство для его осуществления Способ измерения распределения толщины волноводной пленки и устройство для его осуществления](https://img.patentdb.ru/i/200x200/2fe2f630cc8b6c3ad77ac9a454240903.jpg)
Способ измерения распределения толщины волноводной пленки и устройство для его осуществления
Изобретение относится к измерительной технике и может быть использовано для измерения распределения толщины пленок в интегральной оптике. Цель изобретения - повышение производительности измерений - достигается визуализацией распределения толщины пленки при одновременном измерении толщины пленки в характерных точках. С помощью источника света 7 формируют оптической системой 8 расх...
1320659![Установка для ориентированной резки монокристаллов Установка для ориентированной резки монокристаллов](https://img.patentdb.ru/i/200x200/e4a570358810b65c55ee6655a2667bb0.jpg)
Установка для ориентированной резки монокристаллов
Использование: в оборудовании для рентгендифрактометрической ориентировки и ориентированной резки слитков монокристальных материалов, преимущественно пластичных и хрупких, а также слитков с незакономерной ориентацией структуры кристаллов по отношению к огранке слитков . Сущность изобретения: установка включает режущее устройство, рентгеновский дифрактометр, ориентирующую приставк...
1766685