PatentDB.ru — поиск по патентным документам

ВАСИЛЬЕВ МИХАИЛ АЛЕКСЕЕВИЧ

Изобретатель ВАСИЛЬЕВ МИХАИЛ АЛЕКСЕЕВИЧ является автором следующих патентов:

Способ определения температуры кюри ферромагнитных образцов

Способ определения температуры кюри ферромагнитных образцов

  Союз Советскнк Соцналнстнческнк Республик о л721787 (61) Дополнительное к авт. свид-ву— (22) Заявлено 09.1177 (21) 2541480/18-21 (51)М. КЛ. G 01 R 33/12 с присоединением заявки ¹ Госупарственннй комитет СССР но аелам изобретений и открытий (23) Приоритет— (З) >4К е21. 317 ° 44 (088. 8) Опубликовано 150380. Бюллетень Йо 10 Дата опубликования описания 180380 (72} Авторы изо...

721787

Способ масс-спектрометрического послойного анализа твердых тел

Способ масс-спектрометрического послойного анализа твердых тел

  СПОСОБ МАСС-СПЕКТРОМЕТРИЧЕСКОГО ПОСЛОЙНОГО АНАЛИЗА ТВЕРДЫХ ТЕЛ, включаюпщй воздействие на объект пучком первичных ионов, разделе ние и последующую регистрацию вторичных ионов, отличающийс я тем, что, с целью повышения послойного разрешения без снижения концентрационной чувствительности или локальности анализа, воздействие на объект осуществляют пучком ионов I водорода (протонами...

1138855

Способ определения коэффициентов вторичной ионной эмиссии компонентов образца

Способ определения коэффициентов вторичной ионной эмиссии компонентов образца

  Изобретение относится к массспектрометрии вторичных ионов. Цепь изобретения - повышение Точности и воспроизводимости измерений козффициентов вторичной ионной эмиссии компонентов образца. Образец, например техническое железо, содержащее Clr, .V и Zrt , помещают в ваку- ,.умную камеру. Камеру откачивают до давления , и очищают поверхность образца ионным пучком с энергией 5 кэВ и то...

1211645

Способ количественного послойного анализа твердых веществ

Способ количественного послойного анализа твердых веществ

  Изобретение относится к массспектрометрии вторичных ионов и может быть использовано для элементного и фазового послойного анализа твердьк веществ. Цепь изобретения - повышение точности количественного послойного анализа, достигается благодаря тому, что твердое вещество бомбардируют и распыляют двумя пучками первичных ионов. При этом коэффициент распьшения одного пучка меньше един...

1224855

Способ масс-спектрометрического анализа твердых веществ

Способ масс-спектрометрического анализа твердых веществ

  Изобретение может быть использовано для элементного, изотопного и фазового анализа твердых веществ. Цель изобретения - повышение точности анализа. Образец, например чистую медь, бомбардируют в вакуумной камере пучком первичных ионов аргона с энергией 5 кэВ, получаемые вторичные ионы меди и ее примеси анализируют на масс-анализаторе. Кроме того, образец дополнительно: бомбардируют...

1226554


Устройство для получения армированной нити

Устройство для получения армированной нити

  Изобретение относится к текстильной промьшшенности, в частности к устройству для получения армированной нити, и позволяет повысить ее качество и снизить обрьшность. Устройство содержит вытяжной прибор, между питающей и выпускной парами которого установлен столик с прижатым к его выпуклой поверхности бесконечным ремешком. В столике на его концевой части со стороны выпускной пары в...

1434007