ВАСИЛЬЕВ МИХАИЛ АЛЕКСЕЕВИЧ
Изобретатель ВАСИЛЬЕВ МИХАИЛ АЛЕКСЕЕВИЧ является автором следующих патентов:
![Способ определения температуры кюри ферромагнитных образцов Способ определения температуры кюри ферромагнитных образцов](https://img.patentdb.ru/i/200x200/a842ccc2c2a414109d3456d3f49d4dec.jpg)
Способ определения температуры кюри ферромагнитных образцов
Союз Советскнк Соцналнстнческнк Республик о л721787 (61) Дополнительное к авт. свид-ву— (22) Заявлено 09.1177 (21) 2541480/18-21 (51)М. КЛ. G 01 R 33/12 с присоединением заявки ¹ Госупарственннй комитет СССР но аелам изобретений и открытий (23) Приоритет— (З) >4К е21. 317 ° 44 (088. 8) Опубликовано 150380. Бюллетень Йо 10 Дата опубликования описания 180380 (72} Авторы изо...
721787![Способ масс-спектрометрического послойного анализа твердых тел Способ масс-спектрометрического послойного анализа твердых тел](https://img.patentdb.ru/i/200x200/11cce735b0bf4b8c53178043c68e8b41.jpg)
Способ масс-спектрометрического послойного анализа твердых тел
СПОСОБ МАСС-СПЕКТРОМЕТРИЧЕСКОГО ПОСЛОЙНОГО АНАЛИЗА ТВЕРДЫХ ТЕЛ, включаюпщй воздействие на объект пучком первичных ионов, разделе ние и последующую регистрацию вторичных ионов, отличающийс я тем, что, с целью повышения послойного разрешения без снижения концентрационной чувствительности или локальности анализа, воздействие на объект осуществляют пучком ионов I водорода (протонами...
1138855![Способ определения коэффициентов вторичной ионной эмиссии компонентов образца Способ определения коэффициентов вторичной ионной эмиссии компонентов образца](https://img.patentdb.ru/i/200x200/8b4c55aba972783f782d710b31c550ef.jpg)
Способ определения коэффициентов вторичной ионной эмиссии компонентов образца
Изобретение относится к массспектрометрии вторичных ионов. Цепь изобретения - повышение Точности и воспроизводимости измерений козффициентов вторичной ионной эмиссии компонентов образца. Образец, например техническое железо, содержащее Clr, .V и Zrt , помещают в ваку- ,.умную камеру. Камеру откачивают до давления , и очищают поверхность образца ионным пучком с энергией 5 кэВ и то...
1211645![Способ количественного послойного анализа твердых веществ Способ количественного послойного анализа твердых веществ](https://img.patentdb.ru/i/200x200/10c3ecc45232cff5f5a4d793d9043e47.jpg)
Способ количественного послойного анализа твердых веществ
Изобретение относится к массспектрометрии вторичных ионов и может быть использовано для элементного и фазового послойного анализа твердьк веществ. Цепь изобретения - повышение точности количественного послойного анализа, достигается благодаря тому, что твердое вещество бомбардируют и распыляют двумя пучками первичных ионов. При этом коэффициент распьшения одного пучка меньше един...
1224855![Способ масс-спектрометрического анализа твердых веществ Способ масс-спектрометрического анализа твердых веществ](https://img.patentdb.ru/i/200x200/ff0c9e622da467c5b9c5209163aeb80c.jpg)
Способ масс-спектрометрического анализа твердых веществ
Изобретение может быть использовано для элементного, изотопного и фазового анализа твердых веществ. Цель изобретения - повышение точности анализа. Образец, например чистую медь, бомбардируют в вакуумной камере пучком первичных ионов аргона с энергией 5 кэВ, получаемые вторичные ионы меди и ее примеси анализируют на масс-анализаторе. Кроме того, образец дополнительно: бомбардируют...
1226554![Устройство для получения армированной нити Устройство для получения армированной нити](https://img.patentdb.ru/i/200x200/0b720b6080bdca66324c2d6bc5710011.jpg)
Устройство для получения армированной нити
Изобретение относится к текстильной промьшшенности, в частности к устройству для получения армированной нити, и позволяет повысить ее качество и снизить обрьшность. Устройство содержит вытяжной прибор, между питающей и выпускной парами которого установлен столик с прижатым к его выпуклой поверхности бесконечным ремешком. В столике на его концевой части со стороны выпускной пары в...
1434007