КУДРЯВЦЕВ АНАТОЛИЙ ЕФИМОВИЧ
Изобретатель КУДРЯВЦЕВ АНАТОЛИЙ ЕФИМОВИЧ является автором следующих патентов:
![Устройство для испытания интегральных схем Устройство для испытания интегральных схем](https://img.patentdb.ru/i/200x200/d7872c88802807b56c5577ce6efd4949.jpg)
Устройство для испытания интегральных схем
О,П б А "Й= Е ИЗОБРЕТЕН ИЯ Союз Советскнх Социалмстмческиа Реслублнк "734833 4i К АВТОРСКОМУ СВИДЕТЕЛЬСТ8У (6 I ) Дополнительное к авт. свин-ву (22) Заявлено21.03,77 (21) 2463621/13-21 с присоединением заявки № (23) Приоритет Опубликовано 15.05 80 6юллетень № 18 (51) М. -Кл. Н 01 Ь 21/70 Н 05 К 1/04 Государственный комитет по делам изооретений и открытий (53) УДК 621..3...
734833![Устройство для испытаний микросхем Устройство для испытаний микросхем](https://img.patentdb.ru/i/200x200/8f67e882f7857a3503807f1c12287609.jpg)
Устройство для испытаний микросхем
ОПИСАНИЕ ИЗОБРЕТЕНИЯ К АВТОРСКОМУ СВИДЕТЕЛЬСТВУ Cemy Советских Социалистических Республик н>947980 М Фд 1 ,,б=-;: г (61) Дополнительное к авт. сеид-ву— (22) Заявлено 10 ° 10 ° 80 (21) 2995836/18-21 (51)М Кл з с присоединением заявки ¹ (23) Приоритет— Н 0 К 13/08 Н 01 L 21/66 ГоСударственный комитет СССР но делам изобретений и открытий (53) УДК 621. 315. ,.684(088.8)...
947980![Устройство для климатических испытаний изделий электронной техники в инертной среде Устройство для климатических испытаний изделий электронной техники в инертной среде](https://img.patentdb.ru/i/200x200/668269d2c0f3136cd601e3bc6c8fdecf.jpg)
Устройство для климатических испытаний изделий электронной техники в инертной среде
Изобретение относится к испытательной технике, в частности к устройствам для климатических испытаний бескорпусных интегральных микросхем в условиях воздействия повышенных и пониженных температур. Устройство может быть использовано для технологического контроля (зондового контроля) Электрических параметров бескорпусных БИС (больших интегральных схем). Цель изобретения - снижение р...
1820372