УХИН НИКОЛАЙ АНДРЕЕВИЧ
Изобретатель УХИН НИКОЛАЙ АНДРЕЕВИЧ является автором следующих патентов:

Устройство для измерения параметров дефектов в полупроводниковых приборах
«i> 746347 Союз Советсник Социалистических Республик К АВТОРСКОМУ СВИДЕТЕЛЬСТВУ (6l ) Дополнительное к авт. свнд-ву— (22) Заявлено,26. 12.77 (21) 2558799/18-25 с присоединением заявки И (51) М..Кл. G 01 Ж 31/26 Государственный комитет СССР ио делам изобретений н открытий (23) Приоритет— Опублнковано 07,07.80. Бюллетень J4 25 Дата опубликования описания 08.07.80 (53 Zgy...
746347