Макеев О.Н.
Изобретатель Макеев О.Н. является автором следующих патентов:
Способ и устройство контроля и исследования поверхности внутри ядерных и термоядерных установок
Изобретение относится к ядерной технике, в частности к исследованию материалов, подвергающихся воздействию радиации. Сущность изобретения: проводят исследования внутри экспериментальных каналов ядерных и термоядерных установок с помощью зондового сканирующего микроскопа. Могут быть исследованы различные характеристики поверхности, для чего выбирают соответствующий зонд и режим его работы....
2169954