PatentDB.ru — поиск по патентным документам

Макеев О.Н.

Изобретатель Макеев О.Н. является автором следующих патентов:

Способ и устройство контроля и исследования поверхности внутри ядерных и термоядерных установок

Способ и устройство контроля и исследования поверхности внутри ядерных и термоядерных установок

 Изобретение относится к ядерной технике, в частности к исследованию материалов, подвергающихся воздействию радиации. Сущность изобретения: проводят исследования внутри экспериментальных каналов ядерных и термоядерных установок с помощью зондового сканирующего микроскопа. Могут быть исследованы различные характеристики поверхности, для чего выбирают соответствующий зонд и режим его работы....

2169954