Пиршин И.В.

 Использование: в измерительной технике, а более конкретно прибор может быть использован для контроля плотности, состава и толщины тонких пленок, а также для определения шероховатости поверхности. Сущность изобретения: рентгеновский рефлектометр содержит источник полихроматического рентгеновского излучения 1, средства коллимации рентгеновского пучка 2, держатель 3 образца 4, выполненный с...

 Рентгеновский рефлектометр может быть использован для контроля шероховатости оптически гладких поверхностей, состава и толщины тонких пленок, а также для определения толщины и плоскостности подложек. Рефлектометр содержит источник рентгеновского излучения, два формирователя рентгеновских пучков, каждый из которых состоит из дифракционного элемента с собственной осью поворота и средства ко...

 Изобретение относится к области рентгенотехники и может использоваться для контроля плотности, состава, толщины пленок, а также для определения параметров кристаллической структуры. Устройство содержит источник полихроматического рентгеновского излучения, средства коллимации рентгеновского пучка, держатель образца, поворотный кронштейн и средства детектирования излучения. На поворотном кр...

 Изобретение относится к области рентгенотехники и может применяться для контроля плотности, состава и толщины тонких пленок и поверхностных слоев, а также для определения шероховатости поверхности. Рентгеновский рефлектометр содержит источник полихроматического рентгеновского излучения, средства коллимации рентгеновского пучка, держатель образца, поворотный кронштейн, ряд монохроматоров и...

 Изобретение относится к области рентгенотехники и может быть использовано для анализа спектра полихроматического излучения, для пространственного совмещения рентгеновских пучков. Монохроматор содержит ряд последовательно расположенных дифракционных элементов, например, в виде кристаллов или искусственных многослойных структур и средства поворота указанных элементов относительно собственны...