PatentDB.ru — поиск по патентным документам

ПЕТРОВ АЛЕКСЕЙ СЕРГЕЕВИЧ

Изобретатель ПЕТРОВ АЛЕКСЕЙ СЕРГЕЕВИЧ является автором следующих патентов:

Датчик для измерения электрофизических параметров цилиндрических образцов

Датчик для измерения электрофизических параметров цилиндрических образцов

  Союз Советскик Соцмалмстмческмк Республмн ОПИСАНИЕ ИЗОБРЕТЕНИЯ К АВТОРСКОМУ СВИДЕТЕЛЬСТВУ 788039 (61) Дополнительное к авт. свид-ву (22) Заявлено 080678 (21) 2629099/18-09 с присоединением заявки №вЂ” (23) Приоритет Опубликовано 151280,Бюллетень ¹ 46 Дата опубликования описания 151280 (51)M. Кл.3 G R 27/26 Государственный комитет СССР но делам изобретений и открытий (53) У...

788039

Датчик электрофизических параметров полупроводниковых материалов

Датчик электрофизических параметров полупроводниковых материалов

  ОП ИС АНИЕ ИЗОБРЕТЕНИЯ К АВТОРСКОМУ СВИДЕТЕЛЬСТВУ Союз Советских Социалистических Республик ри949540 (22) Заявлено 16.10.78(21) 2676934/18-09 (61) Дополнительное к авт. сеид-ву— (511М.Кл з с присоединением заявки М— G R 27/26 Государственный комитет СССР ио делам изобретений и открытий (23) Приоритет Опубликовано 070882. Бюллетень Мо 29 (53) УДК621. 317 (088. 8) Дата о...

949540

Датчик электрофизических параметров полупроводников

Датчик электрофизических параметров полупроводников

  ДАТЧИК ЭЛЕКТРОФИЗИЧЕСКИХ ПАРАМЕТРОВ ПОЛУПРОВОДНИКОВ, содержа щий СВЧ-резонатор квазистатического типа с первым и вторым элементами связи и измерительным отверстием св зи в торцовой стенке, в котором размещен индуктивный штырь, закрепленный на металлической диафрагме, образующей противоположную то; цовую стенку резонатора, о т л и Чающийся тем, что, с целью повышения точности изме...

1045310

Датчик для измерения удельного сопротивления полупроводниковых стержней

Датчик для измерения удельного сопротивления полупроводниковых стержней

  ДАТЧИК ДЛЯ ИЗМЕРЕНИЯ УДЕЛЬ-. НОГО СОПРОТИВЛЕНИЯ ПОЛУПРОВОДНИКОВЫХ СТЕРЖНЕЙ, содержащий прямоугольный волновод с соосными отверстиями в широких стенках, над которыми размещены четвертьволновые короткозамкнутые отрезки коаксиальной линии с полыми центральными проводниками для введения исследуемого полупроводникового стержня, отличаю щийс я тем, что, с целью расширения диапазона изм...

1112265

Датчик электрофизических параметров полупроводников

Датчик электрофизических параметров полупроводников

  1. ДАТЧИК ЭЛЕКТРОФИЗИЧЕСКИХ ПАРАМЕТРОВ ПОЛУПРОВОДНИКОВ, содержащий цилиндрический СВЧ-резонатор на одной из торцовых стенок которого расположен индуктивный штырь, а на другой выполнено измерительное отверстие , в которое введён свободный конец индуктивного штыря, а также элементы связи цилиндрического СВЧреЭонатора с СВЧ-генератором и индикатором , отличающийся тем, что, с целью...

1148006


Устройство для определения координатной зависимости фотоэдс светочувствительных элементов

Устройство для определения координатной зависимости фотоэдс светочувствительных элементов

  Изобретение может быть использовано для исследования распределения по поверхности электрофизических параметров полупроводников, МДП - структур, фотодиодов. Цель изобретения - повышение точности измерения координатной зависимости фото ЭДС - достигается тем, что источник 2 модулированного света размещен на каретке двухкоординатного самописца 1. Плоскость перемещения каретки ориентир...

1506401