PatentDB.ru — поиск по патентным документам

ГРЕБНЕВ АНАТОЛИЙ АНАТОЛИЕВИЧ

Изобретатель ГРЕБНЕВ АНАТОЛИЙ АНАТОЛИЕВИЧ является автором следующих патентов:

Устройство для контроля дефектовповерхности тел вращения

Устройство для контроля дефектовповерхности тел вращения

  - - -e Р—. ОПИСАНИЕ ИЗОБРЕТЕНИЯ К АВТОРСКОМУ СВИ ЕТЕЛЬСТВУ Союз Советскик Социалистических Республик (61) Дополнительное к авт. сеид-ву(51)М. Кл. 6 01 и 21/89 (22) Заявлвио 09.02.7Д (21) 2725800/18-25 с присоединением заявки Hо— Государственный «оинтет СССР но делаи нзобретеннй н от«рытнй (23) Приоритет Опубликовано 230181, бюллетень Й9 3 . (53) УДК 535. 8 (088.8) 1...

798567

Устройство для контроля толщины оптических деталей

Устройство для контроля толщины оптических деталей

  Союз Советсиик Социалистические Республии Оп ИСАНИЕ ИЗОБРЕТЕН ИЯ К АВТОРСКОМУ СВИДЕТЕЛЬСТВУ >894356 (61) Дополнительное к авт. свид-ву(22)Заявлено 27.03.80 (21) 2900942/25-28 с присоединением заявки пе. (23) Приоритет(5 l ) M. Кл. G 01 В 11/06 МуааРатееииый квмитет CCCP ае делам извбрвтеиий и етауытий Опубликовано 30.12.81. Бюллетень М 48 Дата опубликования описания 30.12...

894356

Устройство для контроля качества поверхности цилиндрических отверстий

Устройство для контроля качества поверхности цилиндрических отверстий

  Союз Советсимк Соцмапмстмческмк Республик К АВТОРСКОМУ СВИДЕТЕЛЬСТВУ (6t ) Дополнительное к авт. свид-ву {22) Заявлено 24. 12. 80 (21) 3222588/25-28 с присоединением заявки М (23) Приоритет (51) М. Кл. G 01 В 11/30 фвударста««ы«кем«тет СССР «е д«лен «м«рете««6 «вт«выт«1 Опубликовано 23. 06. 82. Бюллетень № 23 (53) УЛК 531.715. .27(088.8) Дата опубликования описания 25. 06....

938010

Способ обнаружения дефектов поверхности тел вращения

Способ обнаружения дефектов поверхности тел вращения

  СПОСОБ ОБНАРУЖЕНИЯ ДЕФЕКТОВ ПОВЕРХНОСТИ ТЕЛ ВРУ«ЦЕНИЯ, включаюпдай освещение поверхности наклонным пучком света, ширина которого в плоскости падения соизмерима с развт мером минимального дефекта, предварительный анализ контролируемой поверхности, регистрацию рассеянного излучения под фиксированным углом по отношению к максимуму индикатрисы рассеяния от бездефектной поверхности и...

1158908