PatentDB.ru — поиск по патентным документам

ДУБИНСКИЙ ИГОРЬ НИКОЛАЕВИЧ

Изобретатель ДУБИНСКИЙ ИГОРЬ НИКОЛАЕВИЧ является автором следующих патентов:

Квадрупольный масс-спектрометр

Квадрупольный масс-спектрометр

  Союз Советскии Социалистических Ресаублик ОПИСАНИЕ ИЗОБРЕТЕНИЯ Н АВТОРСКОМУ СВИДЕТЕЛЬСТВУ (63) Дополнительное к авт. свид-ву (22) Заявлено 11.03.79 (21) 2737182/18-25 (54)M Кл H 01 J 49/42 с присоединением заявки ¹ (23) Приоритет— Государственный комитет СССР flo делам изобретений и открытий Опубликовано 3001.81. Бюллетень ¹ 4 Дата опубликования описания 30- о1- 81 (53) У...

801140

Квадрупольный масс-спектрометр

Квадрупольный масс-спектрометр

  817800 Союз Советскик Социалистичаскик Феслублик ОП ИСАНИЕ ИЗОБРЕТЕНИЯ К АВТОРСКОМУ СВИ ЕТЕЛЬСТВУ (61) Дополнительное к авт. саид-ву— (22) Заявлено 0210.78 (21) 26 792 30/18-25 (51)М. Кл.з с присоединением заявки ¹â€” Н 01 3 49/42 G 01 N 27/62 В 01 0 59/44 (23) Приоритет— Государственный комитет СССР ио делан изобретений и открытий Опубликовано 300381. Бюллетень Р 12 (...

817800

Монопольный масс-анализатор

Монопольный масс-анализатор

  ОПИСАНИЕ ИЗОБРЕТЕНИЯ К АВТОРСКОМУ СВИ ВТЮЛЬСТВУ Союз Советских Социалистичвских Республик (6! ) Дополнительное к авт. свмд-ву(22) Заявлено 27.1178 (21) 2688903/18-25 с присоединением заявки М— (23) Приоритет— Опубликовано 300381. Бюллетень М 12 рцм. к,. H 01 J 49/42 G 01 и 27/62 В 01 0 54/44 Государствеииый комитет СССР Il0 делам июбретеиий и открытий (53) УДК 621.38...

817801

Система питания электродов анализатора масс-спектрометра с гиперболическим полем

Система питания электродов анализатора масс-спектрометра с гиперболическим полем

  ЬП ИСАНИЕ ИЗЬБРЕТЕН ИЯ К АВТОРСКОМУ СВИДЕТЕЛЬСТВУ Союз Советских Социалистических Республик (ii)995157 (61) Дополнительное к авт. свид-ву— (22) Заявлено 25.05.81 (21) 3293126/18-21 с присоединением заявки №вЂ” (23) Приоритет— (51) М.К . Н Ol J 49/42 Гвсударстаеахмй кемнтет СССР Опубликовано 07.02.83. Бюллетень № 5 Дата опубликования описания 17.02.83 (53) УДК 621.384...

995157

Способ масс-спектрометрического послойного анализа твердых тел

Способ масс-спектрометрического послойного анализа твердых тел

  СПОСОБ МАСС-СПЕКТРОМЕТРИЧЕСКОГО ПОСЛОЙНОГО АНАЛИЗА ТВЕРДЫХ ТЕЛ, включаюпщй воздействие на объект пучком первичных ионов, разделе ние и последующую регистрацию вторичных ионов, отличающийс я тем, что, с целью повышения послойного разрешения без снижения концентрационной чувствительности или локальности анализа, воздействие на объект осуществляют пучком ионов I водорода (протонами...

1138855


Вторично-ионный масс-спектрометр

Вторично-ионный масс-спектрометр

  Изобретение относится к вторично-ионным масс-спектрометрам, предназначенным для контроля химического состава поверхности и объема твердых тел. Целью изобретения является расширение функциональных возможностей. Масс-спектрометр состоит из источника первичного пучка, оптики 2-4 сбора вторичных ионов, масс-анализатора 5, системы 8-14 энергоанализа и регистрации вторичных ионов. От р...

1711260