PatentDB.ru — поиск по патентным документам

СОЛОДУХО ФАИНА МОИСЕЕВНА

Изобретатель СОЛОДУХО ФАИНА МОИСЕЕВНА является автором следующих патентов:

Способ измерения шероховатостисверхгладких поверхностей

Способ измерения шероховатостисверхгладких поверхностей

  ОПИСАНИЕ ИЗОБРЕТЕНИЯ Союз Советскик Социалистических Республик (>815492 К АВТОРСКОМУ СВИДЕТЕЛЬСТВУ (61) Дополнительное к авт. свмд-ву— (22) Заявлено 03. 04. 79 (21) 2746032/25-28 с присоединением заявки М— (23) Приоритет— (51)М. Кл. С 01 в 11/30 Государственный комнтет СССР но делам нзобретеннй н открытнй Опубликоваио 23.0381. Бюллетень HP 11 (53) УДК 531. 715. .27(088...

815492

Рефлектометрический способ измерения шероховатости полированных поверхностей изделий

Рефлектометрический способ измерения шероховатости полированных поверхностей изделий

  ОПИСАНИЕ ИЗОБРЕТЕНИЯ К АВТОУСКРМУ СВ ИИЛЬСТВУ Союз Советскиз Социалистически к Республик (ii> 868347 (61) Дополнительное к авт. свмд-ву (22) Заявлено100180 (21) 2870666/25-28 (51)М Кп 3 с присоединением заявки Й© 6 01 В 11/30 Государственный комитет СССР по делам изобретений и открытий (23) Приоритет . Опубликовано 3(109,81, Бюллетень 149 36 (53) УДК 531. 715.2 (088.8) Дата...

868347

Рефлектометр для измерения параметров шероховатости сверхгладких поверхностей

Рефлектометр для измерения параметров шероховатости сверхгладких поверхностей

  ОПИСАНИЕ ИЗОБРЕТЕНИЯ К АВТОРСКОМУ СВЩ ЕТИЛЬСТВУ (61) Дополнительное к est. свид-ву(22) Заявлено 200881 (21) 33337б3/25-28 с рисоединеииемзаявки М» (23) Приоритет— Опубликовано 07.0183. Ьоллетеиь М 1 Сеюэ Советских Сециалистических рескублик (iq987381 (И) М.йа.з 6 01 В 11/30 ГесударстаенйыЯ ноиятет СССР не хеааи нзобретеннЯ я еткрктнЯ (531УДК 531. 715. ъ27(088.8) Дата оп...

987381

Устройство для изменения шероховатости поверхности

Устройство для изменения шероховатости поверхности

  УСТРОЙСТВО ДЛЯ ИЗМЕРЕНИЯ ШЕРОХОВАТОСТИ ПОВЕРХНОСТИ, содержа щее последовательно расположенные на одной оси и устанавливаег ые под острым углом к измеряемой поверхности источник монохроматического излучения , модулятор и оптическую систему , приемник излучения, светофильтры, расположенные перед приемником излучения , и электронный блок обработки сигналов, отли -чающееся тем, что,...

1067350

Способ измерения параметров шероховатости сверхгладких поверхностей изделий

Способ измерения параметров шероховатости сверхгладких поверхностей изделий

  Изобретение относится к измерительной технике и .может быть использовано для бесконтактного измерения параметров шероховатости сверхгладких анизотропных поверхностей , в частности поверхностей, обработанных алмазным точением. Цель изобретения - измерение параметров шероховатости анизотропных поверхностей за счет обеспечения чувствительности к анизотропии поверхности . Монохромати...

1262280


Микроинтерферометр для измерения шероховатости поверхности

Микроинтерферометр для измерения шероховатости поверхности

  Изобретение относится к измерительной технике. Цель изобретения - повышение точности измерения путем улучшения качества изображения, повышения разрешающей способности, а также измерения разности фаз вместо разности хода. Пучок света выходит из коллиматора 2, проходит поляризационный светофильтр 3 и светоделителем 4 в виде плоскопараллельной пластинки делится на два пучка, идущих...

1413417

Способ измерения среднего квадратического отклонения высот неровностей анизотропной поверхности изделия и устройство для его осуществления

Способ измерения среднего квадратического отклонения высот неровностей анизотропной поверхности изделия и устройство для его осуществления

  Изобретение относится к измерительной технике и может быть использовано для определения среднеквадратического отклонения высот неровностей анизотропной составляющей и среднеквадратического отклонения высот неровностей изотропной составляющей сверхгладких анизотропных поверхностей, в частности поверхностей, обработанных алмазным точением. Цель изобретения - повышение точности изме...

1700359