ЗЕКЦЕР ГАЛИНА ОВСЕЕВНА
Изобретатель ЗЕКЦЕР ГАЛИНА ОВСЕЕВНА является автором следующих патентов:
Способ исследования дефектныхслоев
Союз Советскик Сощиалистическик Республик ОП ИСАНИЕ ИЗОБРЕТЕН ИЯ К АВТОРСКОМУ СВИДЕТЕЛЬСТВУ (ii)819674 (61) Дополнительное к авт. свид-ву— (22) Заявлено 01.03.78 (21) 2588466/18-25 (51) М.К . G 01 N 27/24 G 01 N 21/04 с присоединением заявки № —, Гееудирстееииый иамитет (23) Приоритет— Опубликовано 07.04.81. Бюллетень № 13 Дата опубликования описания 09.04.81 (53)...
819674
Способ исследования дефектных слоев
iu 894530 Союз Советских Социалистических Республик OnИСАНИЕ ИЗОБРЕТЕНИЯ к летовскомм свидетельств (61) Дополнительное к авт. саид-ву Р819б74 (22) Заявлено 250479 (2! ) 2759314/18-25 с присоединением заявки М (23) Приоритет Опубликовано 30Д 281. Бюллетень М 48 Дата опубликования описания ЗШ 281 (5l)M. Кл. С 01 М 27/24 9вударстеенпы11 квинтет СССР аю аелаи нзеюретеннй н от...
894530
Способ обнаружения и исследования дефектных слоев, возникающих на поверхности стальных изделий при шлифовании и заточке
ОПИСАНИЕ ИЗОБРЕТЕНИЯ К АВТОРСКОМУ СВИДЕТЕЛЬСТВУ Союз Советских Социалистических Республик < >958947 (61) Дополнительное к авт. свид-ву— (22) Заявлено 27.01.81 (21) 3263467/18-25 (51) М. Кл.з (л 01 N 27/24 с присоединением заявки— СССР Опубликовано 15.09.82. Бюллетень №34 Дата опубликования описания 25.09.82 (53) УДК 543.253 (088.8) Ilo делам изееретеиий и еткрмтий (72...
958947