PatentDB.ru — поиск по патентным документам

ВАЙСМАН ФЕЛИКС ЛЕОНИДОВИЧ

Изобретатель ВАЙСМАН ФЕЛИКС ЛЕОНИДОВИЧ является автором следующих патентов:

Устройство для определения статическиххарактеристик магнитных материалов

Устройство для определения статическиххарактеристик магнитных материалов

  Союз Советских Социалистических Республик ОП ИСАНИЕ ИЗОБРЕТЕНИЯ К, АВТОРСКОМУ СВИДЕТЕЛЬСТВУ нн819766 (61) Дополнительное к авт. свмд-ву (22) Заявлено 0405.79 (21)2765499/18-21 с присоединением заявки ¹ (51) М. К.з G 01 R 33/12 Государственный комитет СССР яо делам изобретений и открытий (23) Приоритет Опубликовано 070481. Бюллетень N4 13 Дата опубликования описания 070481 (...

819766

Способ измерения намагниченности насыщения в тонких магнитных пленках ферритов-гранатов

Способ измерения намагниченности насыщения в тонких магнитных пленках ферритов-гранатов

  СПОСОБ ИЗМЕРЕНИЯ НАМАГНИЧЕННОСТИ НАаЛЦЕНИЯ В ТОНКИХ МАГНИТНЫХ П1ШНКАХ ФЕРРИТОВ-ГРАНАТОВ,включающий воздействие на пленку однородным , магнитным .полем смещения, перпендикулярным плоскости пленки, увеличение напряженности поля до момента исчезновения лабиринтной структуры, который фиксируют, наблюдая пленку в поляризованном свете , и регистрацию напряженности поля в этот момент, о...

1129557

Способ измерения скорости насыщения доменных стенок в тонкой магнитной пленке феррит-гранатов

Способ измерения скорости насыщения доменных стенок в тонкой магнитной пленке феррит-гранатов

  Изобретение относится к области вычислительной техники и может быть использовано при изготовлении запоминающих устройств на цилиндрических магнитных доменах (ЦМД). Целью изобретения является повышение точности измерения скорости насыщения доменных стенок в тонкой магнитной пленке (ТМП) феррит-гранатов. В соответствии с предложенным способом воздействуют на ТМП последовательностью...

1238154

Способ обнаружения дефектов в доменосодержащих эпитаксиальных пленках

Способ обнаружения дефектов в доменосодержащих эпитаксиальных пленках

  Изобретение относится к области магнитной микроэлектроники и может быть использовано для контроля качества и однородности доменосодержащих монокристаллических эпитаксиальных пленок. Целью изобретения является упрощение способа и повышение его быстродействия. Способ выявления дефектов заключается в следующем . На локальный участок размагниченной пленки воздействуют импульсом магни...

1322373

Способ отжига монослойных эпитаксиальных феррит-гранатовых пленок для создания автосмещения

Способ отжига монослойных эпитаксиальных феррит-гранатовых пленок для создания автосмещения

  Изобретение относится к вычислительной технике и может быть использовано при изготовлении запоминающих устройств на цилиндрических магнитных доменах (ЦМД). Целью изобретения является упрощение получения эпитаксиальных феррит-гранатовых шIe- нок (ЭФГП) с автосмещением. Подложку с ЭФПГ помещают в вакуумную отжиговую камеру, производят откачку камеры , поднимают температуру в камеру...

1341679