PatentDB.ru — поиск по патентным документам

ПАСАЛЬСКИЙ ВЯЧЕСЛАВ МИЛОСЛАВОВИЧ

Изобретатель ПАСАЛЬСКИЙ ВЯЧЕСЛАВ МИЛОСЛАВОВИЧ является автором следующих патентов:

Патент ссср  825276

Патент ссср 825276

  ОП ИСАНИ ИЗОБРЕТЕН Ия Союз Советскнк Соцналнстнчесинк Республик ()825276 К АВТОРСКОМУ СВИДЕТЕЛЬСТВУ (61) Дополнительное к авт. свид-ву— (22) Заявлено 18.01.79 (21) 2715295/22-02 с присоединением заявки №вЂ” (23) Приоритет— (51) М.К . В 22 D 23/08 С 21 D 1/62// В 22 F 9/00 Гееудерстеенеые кемитет СССР до делам изобретений и еткрыткй Опубликовано 30.04.81. Бюллетень №1...

825276

Устройство для получения закаленных из жидкого состояния металлов

Устройство для получения закаленных из жидкого состояния металлов

  ОПИСАНИЕ ИЗОБРЕТЕНИЯ К АВТОРСКОМУ СВИДЕТЕЛЬСТВУ Союз Советскик Социалистических Республик (ii>944789 гФ с. ." 7 (61}Дополнительное к авт. свид-ву (22) Заявлено 04 0181 (23 ) 32298 70/22-02 с присоединением заявки ¹ (23) Приоритет Опубликовано 23.07.82.Бюллетень ¹ 2 7 (51) М.Кл з В 22 F 9/10// В 22 D 13/00 Госуллрственный комитет СССР но лелам изобретений и открытий t53)...

944789

Машина для испытания на растяжение образцов нитей и тонких лент

Машина для испытания на растяжение образцов нитей и тонких лент

  МАШИНА ДЛЯ ИСПЫТАНИЯ НА РАСТЯЖЕНИЕ ОБРАЗЦОВ НИТЕЙ И ТОНКИХ ЛЕНТ, содержащая станину, установленный на ней механизм нагружения, рьгааг, активный и пассивный захваты и систему регистрации с силоизмерителем и деформометром, отличающаяс я тем, что, с целью упрощения конструкции и повьщ1ения точности испытания , она снабжена кареткой, установленной с возможностью перемещения вдоль оси...

1089467

Способ определения толщины покрытия и устройство для его осуществления

Способ определения толщины покрытия и устройство для его осуществления

  Изобретение относится к измерительной технике, в частности к технологии контроля с использованием изаучений, и может быть использовано в различных отраслях промышленности. Целью изобретения является повышение точности контроля путем коррекции показаний по интенсивности дифракционной линии .подложки. Способ заключается в регистрации двух линий дифракционных составляющих спектра, о...

1631265