Юрченко В.И.

 (19)SU(11)1274558(13)A1(51)  МПК 6    H01L21/66(12) ОПИСАНИЕ ИЗОБРЕТЕНИЯк авторскому свидетельствуСтатус: по данным на 17.01.2013 - прекратил действиеПошлина: (54) СПОСОБ КОНТРОЛЯ ПАРАМЕТРОВ ПОЛУПРОВОДНИКОВЫХ ДИОДНЫХ СТРУКТУР Изобретение относится к области полупроводниковой электроники, в частности к полупроводниковому приборостроению. Цель изобретения увели...

 Использование: в электронной технике. Сущность изобретения: кристалл диода имеет два разделенных объема с малой и большой площадями контактов. Диод содержит n+ контактный слой, n-активный слой, и, n+ буферный слой, соединенные между собой общей подложкой. Кристалл имеет форму квадрата в плане. Контакт большей площади - это анодный контакт, он имеет форму равнобедренного прямоугольного тре...

 Использование: изобретение относится к области машиностроения. Более конкретно, к "безразмерной" обработке поверхности деталей, выполняемой с целью ликвидации дефектов литья, прессования, ковки, горячей и холодной штамповки и т.п. и может быть использовано на обрабатывающих предприятиях различного профиля, в цехах для виброобработки и галтовки деталей. Сущность: для интенсификации процесс...

 Изобретение относится к фотограмметрии и может быть использовано в строительстве, архитектуре, медицине и других областях для определения пространственных координат точек объекта, параметров поверхности объекта по фотографическим снимкам, в том числе не имеющим координатных меток. Способ включает фотографирование объекта с нескольких позиций (точек пространства), опознавание точек изображ...

 Изобретение относится к (со)полимерным и/или олигомерным композициям и касается состава для получения люминесцентных и селективно поглощающих оптическое излучение материалов. Состав для прозрачного в диапазоне видимого света покрытия с фотокорректирующими свойствами содержит (со)полимер и/или олигомер в растворителе и химическую добавку с фотокорректирующими свойствами, содержащую комплек...