PatentDB.ru — поиск по патентным документам

ХАЙКИН МОИСЕЙ СЕМЕНОВИЧ

Изобретатель ХАЙКИН МОИСЕЙ СЕМЕНОВИЧ является автором следующих патентов:

Способ измерения магнитного пото-ka и устройство для его осуществления

Способ измерения магнитного пото-ka и устройство для его осуществления

  Союз Советски к Социалистическик Республик ОП ИСАНИЕ ИЗОБРЕТЕНИЯ К АВТОЯСКОМУ СВИДЕТЕЛЬСТВУ < 834625 (61) Дополнительное к авт. свид-ву— (22) Заявлено 20.06.78 (21) 2636400/18-21 с присоединением заявки №вЂ” (51) M. Кл. G 0I R 33/02 Гееудлрстеенный кемитет (23) Приоритет— Опубликовано 30.05.81. Бюллетень № 20 Дата опубликования описания 05.06.81 (53) УДК 621.317. 44...

834625

Сканирующий туннельный микроскоп

Сканирующий туннельный микроскоп

  Изобретение относится к электронным приборам для исследования физических свойств поверхностей твердых тел. Целью изобретения является расширение поля наблюдения до 1000 мкм за счет использования биморфных пьезоэлементов в виде дисков. Сканирующий туннельный микроскоп содержит дисковый биморфный пьезоэлемант 2, в центре которого закрепляется об СОЮЗ С0ВЕТСНИХ СОЦИАЛИСТИЧЕСКИХ...

1453475

Сканирующий туннельный микроскоп

Сканирующий туннельный микроскоп

  Изобретение относится к электронным приборам, предназначенным для исследования физических свойств поверхностей твердых тел с разрешающей способностью порядка размеров атома. Цель изобретения - упрощение конструкции сканирующего туннельного микроскопа - достигается путем более простой кинематической схемы перемещений подвижных элементов - стержней узлов позиционирования образца и и...

1564702

Сканирующий туннельный микроскоп

Сканирующий туннельный микроскоп

  Изобретение относится к электронной микроскопии и может быть использовано при исследованиях свойств и поверхности при низких температурах. Целью изобретения является расширение функциональных возможностей микроскопа за счет проведения измерений в среде жидкого гелия путем повышения собственной частоты механических колебаний. Микроскоп содержит вертикально ориентированный полый цилиндриче...

1698914

Сканирующий туннельный микроскоп

Сканирующий туннельный микроскоп

  Использование: сканирующий туннельный микроскоп относится к электронным приборам для исследования физических свойств поверхностей твердых тел с разрешающей способностью порядка размеров атома. Сущность изобретения: микроскоп содержит станину, узел позиционирования образца и узел перемещения измерительной иглы, один из которых включает три, а другой один трубчатый пьезодвижитель....

1797149