PatentDB.ru — поиск по патентным документам

КАБАНОВ МИХАИЛ ВСЕВОЛОДОВИЧ

Изобретатель КАБАНОВ МИХАИЛ ВСЕВОЛОДОВИЧ является автором следующих патентов:

Способ определения коэффициентаослабления атмосферы

Способ определения коэффициентаослабления атмосферы

  (»/840714 ОП ИКАНИЕ ИЗОБРЕТЕН ИЯ N АВТОРСКОМУ СВИДЕТЕЛЬСТВУ Союз Советски к Социалистические Республик (6I ) Дополнительное к авт. свил-ву {51)М. Кл. (22) Заявлено 18. 01. 78(21) 2571365/18-25 с присоединением заявки № (23) Приоритет С 01 И 21/49 О1 W 1/18 Гооударстеенный комитет СССР оо делам изооретеннй н открытий Опубликовано 23.06. 81. Бк>ллетень № 23 Дата опубликован...

840714

Способ определения наклонной прозрачности атмосферы

Способ определения наклонной прозрачности атмосферы

  СПОСОБ ОПРЕДЕЛЕНИЯ НАКЛОННОЙ ПРОЗРАЧНОСТИ АТМОСФЕРЫ, по которому измеряют через атмосферу яркость поверхности излучателя на двух расстояниях от него, отличающийся тем, что, с целью повышения надежности и упрощения реали-зации способа, измеряют яркость участков поверхности излут1ателя, находящихся на одинаковом расстоянии от точки измерения и наблюдаемых при одинаковом значении со...

1155922

Способ контроля качества оптических систем

Способ контроля качества оптических систем

  Изобретение относится к измерительной технике и предназначено для контроля оптических элементов и сис«Cfro .o., 1, / --- -И .о,,Г .aj тем. Цель изобретения - упрощение контроля и повышение его производи-- тельности. Исследуемая оптическая система освещается расходящимся пучком ,- в котором с помощью экрана с хаотично расположенными на нем отверстиями вьщеляется ряд зон. Нескольки...

1223033

Способ определения прозрачности атмосферы

Способ определения прозрачности атмосферы

  Изобретение относится к области измерений потоков радиации и может найти применение при определении прозрачности атмосферы или энергетического ослабления излучения на различных высотах. Целью изобретения является повьшение точности измерения . Способ заключается в измерении яркости подстилающей поверхности при одном угле визирования с верхней и нижней границ зондируемого слоя атм...

1286905