ЧУХОВСКИЙ ФЕЛИКС НИКОЛАЕВИЧ

  Союз Советских Социалистических Республик ОПИСАНИЕ ИЗОБРЕТЕНИЯ К АВТОРСКОМУ СВИДЕТЕЛЬСТВУ (61) Дополнительное к авт. саид-ву (22) Заявлено 03. 08. 79 (21) 2804336/18-25

  Ф. H. Чуховский, B. В. Суходольский, А. 5., Гильварг, К. Т. Габриелян и П. В. Пет ащЬнь,- .:.-„ ° 1 Специальное конструкторское врц Ийстйтута. кристаллографии ии. А. В. Шуаиикоаа ааа (72) Авторы изобретения (7l) Заявитель (54 ) КОЛЛИИИРУИЩИИ МОНОХРОМАТОР РЕНТГЕНОВСКОГО ИЗЛУЧЕНИЯ Изобретение относится к рентгеноструктурному анализу,а более конкретнок монохроматорам рентгенов...

  УСТРОЙСТВО ДЛЯ РЕНТГЕНОВСКОЙ ТОПОГРАФИИ, содержащее микрофокусный источник рентгеновского излучения со средствами линейного перемещения фокусного пятна, гониометр с механизмом линейного перемещения образца и детектор, отличающееся тем, что, с целью повышения пространственного разрешения топографического изображения и контрастной чувствительности устройства, перед детектором введе...

  УСТРОЙСТВО ДЛЯ РЕНТГЕНОВС- КОЙ ТОПОГРАФИИ МОНОКРИСТАЛЛОВ, содер .жащее микрофокусный источник рентгеновского излучения, держатель исследуемого монокристалла со средством его перемещения в брэгговском направлении и регистратор излучения, отличающееся тем, что, с целью улучшения пространственного разрешения топографического изображения, в качестве регистратора излучения использован...

  СПОСОБ КОНТРОЛЯ УПРУГИХ ДЕФОРМАЦИЙ МОНОКРИСТАЛЛИЧЕСКИХ ПЛАСИЖ, включающий измерение интегральной интенсивности отражений дифрагированных по Лауэ рентгеновских лучей, отличающийс.я тем, что, с целью повышения информативности и экспрессности способа, интегральную интенсивность измеряют для косонесимметричных отражений при вращении монокристаллической пластины вокруг оси, направленн...

  Изобретение относится к области рентгеноструктурного анализа и может использоваться при исследовании .-. структурных дефектов монокристаллов. Цель изобретения - повьшение чувствительности анализа благодаря надежному выделению диффузного максимума. Способ осуществляется следующим образом.Первичный рентгеновский пучок направляют на кристалл-монохроматор под углом к его поверхности,...

  Изобретение относится к устройствам управления рентгеновским излучением и может применяться в рентгеноспектральном и рентгеноструктурном анализе, рентгеновской микроскопии и астрономии. Цель изобретения - обеспечение возможности фокусировки в произвольной точке. Источник располагают на направлении брэгговского отражения на произвольном расстоянии Lo от двухосно изогнутого монокри...

  Изобретение относится к измерительной технике, к рентгенодифракционному определению градиента деформации неоднородных по составу монокристаллических пленочных образцов. Цель изобретения - обеспечение возможности определения также и толщины монокристаллических пленочных образцов по характеристикам кривой дифракционного отражения (КДО) пленочного образца. Для этого на образец напра...