PatentDB.ru — поиск по патентным документам

КОЖУХАРЬ АНАТОЛИЙ ЮРЬЕВИЧ

Изобретатель КОЖУХАРЬ АНАТОЛИЙ ЮРЬЕВИЧ является автором следующих патентов:

Устройство для исследованияферромагнитного резонанса тонкихмагнитных пленок

Устройство для исследованияферромагнитного резонанса тонкихмагнитных пленок

  Союз Советских ° Социапистических Респубпик ОП ИСАНИЕ .ИЗОБРЕТЕН ИЯ К АВТОРСКОМУ СВИДЕТЕЛЬСТВУ Q 01 N 27/78// G 01 R 33/12 Гееудзрствевный комитет СССР пв дезам изевретеник и аткритнв (23) Приоритет Опубликовано 23.07 ° 81- Бюллетень ¹ 27 Дата опубликования описания 30.07.81 (53) УДК621.317 (088.8) . (72) Авторы изобретения А.1О.Кожухарь, Г.И.Сиренко, Е.Ф.Ходосо Донецкий...

849057

Способ определения параметров эпитаксиальных феррит-- гранатовых систем

Способ определения параметров эпитаксиальных феррит-- гранатовых систем

  Союз Советск из Социвпистичвсиик Рвсттублии ОПИСАНИЕ ИЗОБРЕТЕНИЯ К АВТОРСКОМУ СВИЩЕТЕ,ЛЬСТВУ Опубликовано 07.09.81. Бюллетень № 33 Дата опубликования описания 07.09.81 () ) да Я Ol R 33/12 Госудорстооиный комитет СССР ll6 долом изобретений и открытий (53) УЙК621.317, . 44{ 088.8) (72) Авторы изобретения А.А. Галкин, Е.Ф. Ходосов, АЮ. Кожухарь "H Г;К;-Чиркин Г 1 l / кр...

862087

Устройство для исследования резонанса доменных границ в магнитных пленках

Устройство для исследования резонанса доменных границ в магнитных пленках

  ОП ИСАНИЕ ИЗОБРЕТЕН ИЯ К АВТОРСКОМУ СВИДЕТЕЛЬСТВУ (и911271 Союз Советских Социалистических Республик (Ы )-Дополнительное к авт. спид-ву (22) Заявлено 240680 (21) 2946318/18-25 (51) М. Кл. с присоединением заявки № G 01 N 24/14 аваударатванаый каинтет СССР но делам наабратаннй н аткрытнй (23) Приоритет Онублнковано 0 70 382. Бюллетень № 9 (53) УДК539.143.43: :543.53 (088....

911271

Способ определения структуры тонких магнитных пленок

Способ определения структуры тонких магнитных пленок

  ОП ИСАНИЙ ИЗОБРЕТЕНИЯ К АВТОРСКОМУ СВИДЕТЕЛЬСТВУ Союз Советскнх Социалистических Республик G 01 R 33/12 с присоединением заявки М Гоаудауатвехвый камитет СССР (23) Приоритет по лелем изабаетений и атхрытвй Опубликовано 30 ° 03 82 «иоллетень М 12 Дата опубликования описания 30. 03. 82 (53) УДК 621. .317-44 (088.8) Л.А. Иевенко, А.Ю. Кожухарь и В.М. Ус икнув,:„„-,,,.» ji-...

917150

Способ определения напряженности поля коллапса решетки цилиндрических магнитных доменов

Способ определения напряженности поля коллапса решетки цилиндрических магнитных доменов

  ОП ИСАНИЕ ИЗОБРЕТЕНИЯ К АВТОРСЫОМУ СВИДЕТЕЛЬСТВУ Союз Советскик Социалистические Рес ублкк щ930382 (6) ) Дополнительное к авт. сеид-ву (22)Заявлено 22. 01. 80 (2) ) 2872611/18-24 (53)M. Кв. G 11 С 11/14 с присоединением заявки М (23) Приоритет )Ьеудеретееквыб кемнтет СССР ае делам кзееретение н ютерьпи)) Опубликовано 23 ° 05.82 ° бюллетень М 19 (53) УДК 681 ° 327.. .66(08...

930382


Способ исследования и неразрушающего контроля магнитных пленок

Способ исследования и неразрушающего контроля магнитных пленок

  1. СПОСОБ ИССЛЕДОВАНИЯ И HE :РАЗРУШАИЦЕГО КОНТРОЛЯ МАГНИТНЫХ ПЛЕНОК , заключакхоийся в .разделении, по сшедовательной регистрации и сравнении спектров ферромагнитного резонанса от отдельных локальных участков магнитной пленки с помощью спектрометра электронного парамагнитного резонанса (ЭПР), отличающий-, с я тем, что, с целью повышения пространственной разреша1Ь1цей способности...

1065750

Способ измерения параметров затухания спин-волновых возбуждений в магнитных пленках

Способ измерения параметров затухания спин-волновых возбуждений в магнитных пленках

  Изобретение относится к технической физике и может найти применение при технологическом контроле физических параметров магнитных пленок, в том числе эпитаксиальных феррит-гранатовых систем. Целью изобретения является повышение производи ельности и точности измерений параметров затухания спин-волновых возбуждений в магнитных пленках, С этой целью в контур возбуждения, помещается и...

1242888

Способ измерения параметров порошков магнитных материалов

Способ измерения параметров порошков магнитных материалов

  Изобретение относится к технической физике и может быть использовано для экспрессных измерений параметров намагниченности М и средней фракции d порошков магнитных материалов, используемых в производстве постоянных магнитных материалов , композиционных материалов для магнитных лент, дисков и т. п. Целью изобретения является повышение информативности и разрешающей способности. Сущн...

1413495

Способ бесконтактного измерения удельного электросопротивления полупроводниковых пленок

Способ бесконтактного измерения удельного электросопротивления полупроводниковых пленок

  Изобретение относится к технической физике, в частности к электроизмерительной технике, и может быть использовано для неразрушающего контроля удельного электросопротивления полупроводниковых пленок. Цель изобретения - повышение точности за счет увеличения чувствительности и выбора оптимального диапазона частот. Способ состоит в том, что размещают на катушке индуктивности колебате...

1642410