ОБРАДОВИЧ КИРА АЛЕКСЕЕВНА
Изобретатель ОБРАДОВИЧ КИРА АЛЕКСЕЕВНА является автором следующих патентов:
Рефлектометрический способ измерения шероховатости полированных поверхностей изделий
ОПИСАНИЕ ИЗОБРЕТЕНИЯ К АВТОУСКРМУ СВ ИИЛЬСТВУ Союз Советскиз Социалистически к Республик (ii> 868347 (61) Дополнительное к авт. свмд-ву (22) Заявлено100180 (21) 2870666/25-28 (51)М Кп 3 с присоединением заявки Й© 6 01 В 11/30 Государственный комитет СССР по делам изобретений и открытий (23) Приоритет . Опубликовано 3(109,81, Бюллетень 149 36 (53) УДК 531. 715.2 (088.8) Дата...
868347Рефлектометр для измерения параметров шероховатости сверхгладких поверхностей
ОПИСАНИЕ ИЗОБРЕТЕНИЯ К АВТОРСКОМУ СВЩ ЕТИЛЬСТВУ (61) Дополнительное к est. свид-ву(22) Заявлено 200881 (21) 33337б3/25-28 с рисоединеииемзаявки М» (23) Приоритет— Опубликовано 07.0183. Ьоллетеиь М 1 Сеюэ Советских Сециалистических рескублик (iq987381 (И) М.йа.з 6 01 В 11/30 ГесударстаенйыЯ ноиятет СССР не хеааи нзобретеннЯ я еткрктнЯ (531УДК 531. 715. ъ27(088.8) Дата оп...
987381Устройство для изменения шероховатости поверхности
УСТРОЙСТВО ДЛЯ ИЗМЕРЕНИЯ ШЕРОХОВАТОСТИ ПОВЕРХНОСТИ, содержа щее последовательно расположенные на одной оси и устанавливаег ые под острым углом к измеряемой поверхности источник монохроматического излучения , модулятор и оптическую систему , приемник излучения, светофильтры, расположенные перед приемником излучения , и электронный блок обработки сигналов, отли -чающееся тем, что,...
1067350Способ измерения параметров шероховатости сверхгладких поверхностей изделий
Изобретение относится к измерительной технике и .может быть использовано для бесконтактного измерения параметров шероховатости сверхгладких анизотропных поверхностей , в частности поверхностей, обработанных алмазным точением. Цель изобретения - измерение параметров шероховатости анизотропных поверхностей за счет обеспечения чувствительности к анизотропии поверхности . Монохромати...
1262280Рефлектометрический способ определения параметров шероховатости поверхности изделия
Изобретение относится к измерительной технике и может быть использовано для определения параметров шероховатости сверхгладких поверхностей изделий. Целью изобретения является повышение точности, производительности и информативности определения параметров шероховатости путем получения и использования информации о виде спектральной плотности высот неровностей поверхности изделия за...
1582004Способ измерения среднего квадратического отклонения высот неровностей анизотропной поверхности изделия и устройство для его осуществления
Изобретение относится к измерительной технике и может быть использовано для определения среднеквадратического отклонения высот неровностей анизотропной составляющей и среднеквадратического отклонения высот неровностей изотропной составляющей сверхгладких анизотропных поверхностей, в частности поверхностей, обработанных алмазным точением. Цель изобретения - повышение точности изме...
1700359