Быковский Ю.А.

  Класс 21@, 29а« Ж 128539 СССР ОПИСАНИЕ ИЗОБРЕТЕНИЯ К АВТОРСКОМУ СВИДЕТЕЛЬСТВУ Ю. A. Быковский, Ю. П. Козырев и В. А. Гридин ПРЕОБРАЗОВАТЕЛЬ ЛУЧИСТОЙ ЭНЕРГИИ В ЭЛЕКТРИЧЕСКУЮ Заявлено 20 «поля 1939 г. за Х«2 634335/24 в Ко.«11«тет по делам изобретений и открь«ти««при Совете Минпстров СССР Опубликовано в .кена пр«шципиaëüíàÿ схема предлагаемого Iiреобразователя. Сущность п12едла...

  Использование: изготовление гибких коммутационных плат. Сущность изобретения: в вакуумной камере размещают пластину носителя с предварительно нанесенной пленкой полиимидного лака и медную мишень. Под действием импульсного лазерного излучения медь испаряется и осаждается на полиимид. После этого проводят гальваническое наращивание меди и с помощью фотолитографии формируют разводку. Новым...

 Использование: в оптоэлектронике в системах акустооптической обработки сигналов и устройствах сопряжения систем обработки радиосигналов с устройствами оптической обработки сигналов. Сущность изобретения: акустооптическое устройство содержит амплитудную дифракционную решетку, акустооптическую ячейку, собирающую линзу, фотоприемное устройство. Расстояние между амплитудной решеткой и акустоо...

 Устройство записи содержит расположенные на одной оптической оси объект, фоторегистрирующую среду и отражатель, а также Фурье-объектив. Объект расположен в передней фокальной плоскости Фурье-объектива, а фоторегистрирующая среда - в его задней фокальной плоскости, при этом отражатель выполнен в виде вогнутого зеркала и расположен на двойном фокусном расстоянии зеркала от фоторегистрирующе...

 Изобретение относится к физике плазмы, а именно к способам измерения электронной температуры плазмы, создаваемой лазерным излучением на мишенях из проводников. При воздействии лазерного излучения на поверхность твердой мишени, установленной в вакууме, происходит образование плазмы, из которой вследствие более высокой подвижности уходят электроны. В результате на границе плазмы с вакуумом...

 Изобретение относится к области оптической спектрометрии и может быть использовано в области спектрального анализа объектов. Для анализа спектров источников без процедуры сканирования по поверхности источника имеется входная маска, пропускающая через себя излучение источника, причем ее автокорреляционный сигнал имеет высокую степень локализации и используется в качестве элемента разрешени...