АГРАНОВСКИЙ БОРИС АЛЕКСАНДРОВИЧ
Изобретатель АГРАНОВСКИЙ БОРИС АЛЕКСАНДРОВИЧ является автором следующих патентов:
![Способ измерения толщины слоев Способ измерения толщины слоев](https://img.patentdb.ru/i/200x200/7741dd5a765caa6e1a2e3408a08f0093.jpg)
Способ измерения толщины слоев
>879279 Союз Соевтскии Социапмстическми Респубпик ОП ИСАНИЕ ИЗОБРЕТЕ Н ИЯ К АВТОРСКОМУ СВИДЕТЕЛЬСТВУ (5l)N. Кл. (51) Дополнительное к авт. спид-ву (22)Заявлено 23.01.80 (21) 2872941/25-28 с присоединением заявки М G 01 В 7/06 6 01 N 27/00 Ркуйврствеиый кемитет СССР ио делам изебретеиий и етирития (23) Приоритет (53) УД К620. 179. .142.5(088.8) Опубликовано 07.11.81. Бюлле...
879279![Способ измерения толщины слоев многослойных изделий Способ измерения толщины слоев многослойных изделий](https://img.patentdb.ru/i/200x200/f3bd615543c72f977af318ce89aa995a.jpg)
Способ измерения толщины слоев многослойных изделий
Изобретение относится к области неразрушающего контроля. Цель изобретения - повышение точности при измерении толщины электропроводящих изделий. Повышение точности достигается за счет устранения влияния на результат измерения вихревых токов, наводимых в слоях изделия. Для этого по контурам, образованным проводниками, размещенными между слоями, пропускают постоянный ток, длительност...
1490455![Способ измерения толщины слоев Способ измерения толщины слоев](https://img.patentdb.ru/i/200x200/88b3d5dcba5e054ba4f48a46baaf23ec.jpg)
Способ измерения толщины слоев
Изобретение относится к неразрушаемому контролю и может быть использовано при измерении толщины многослойных изделий. Целью изобретения является повышение производительности контроля за счет уменьшения числа операций и регистрации аналогового тока в контуре. Первоначально создаются два контура из объединяемых попарно четырех линейных проводников, расположенных на различных расстоя...
1495641![Способ измерения толщины слоев Способ измерения толщины слоев](https://img.patentdb.ru/i/200x200/2c988ce361e65e5208a94da52e93ada3.jpg)
Способ измерения толщины слоев
Изобретение относится к неразрушающему контролю и может быть использовано для толщинометрии слоев многослойных крупногабаритных неферромагнитных изделий. Цель изобретения - повышение точности измерения. Способ заключается в перемещении намагниченного вдоль большой оси эллипсоид вращения в диэлектрических цилиндрических трубках, размещенных между слоями изделия в процессе его изгот...
1523899![Способ измерения толщины слоев Способ измерения толщины слоев](https://img.patentdb.ru/i/200x200/652db66a0e269c4329783a6ab55a8562.jpg)
Способ измерения толщины слоев
Изобретение относится к неразрешающему контролю и может быть использовано для измерения толщины слоев многослойных крупногабаритных изделий. Цель изобретения является упрощение, повышение точности измерения и производительности контроля. Способ реализуется следующим образом. Путем объединения линейных проводников 2 1, 2 2 с источником 4 тока образуют контур, в котором пропускают т...
1580150![Способ измерения толщины слоев Способ измерения толщины слоев](https://img.patentdb.ru/i/200x200/34c4f44e6b58a8ca0a80de368d743a41.jpg)
Способ измерения толщины слоев
Изобретение относится к неразрушающему контролю и может быть использовано для измерения толщины слоев многослойных крупногабаритных неферромагнитных объектов. Повышение точности измерения достигается за счет уменьшения погрешности, связанной с воздействием внешних магнитных полей. Эллипсоид 5 последовательно перемещается по диэлектрическим трубкам 2<SB POS="POST">1</SB>...
1610239![Измеритель электрических и неэлектрических величин Измеритель электрических и неэлектрических величин](https://img.patentdb.ru/i/200x200/9379ffaef2d929bc10005353f0a8e9b1.jpg)
Измеритель электрических и неэлектрических величин
Изобретение относится к измерению электрических и неэлектрических величин, в частности неэлектрических величин, допускающих преобразование индуктивными или емкостными датчиками, а также емкости, индуктивности. Цель изобретения - повышение точности за счет снижения влияния сопротивлений в колебательном контуре. Измеритель электрических и неэлектрических величин содержит автогенера...
1628012