АГРАНОВСКИЙ БОРИС АЛЕКСАНДРОВИЧ
Изобретатель АГРАНОВСКИЙ БОРИС АЛЕКСАНДРОВИЧ является автором следующих патентов:
Способ измерения толщины слоев
>879279 Союз Соевтскии Социапмстическми Респубпик ОП ИСАНИЕ ИЗОБРЕТЕ Н ИЯ К АВТОРСКОМУ СВИДЕТЕЛЬСТВУ (5l)N. Кл. (51) Дополнительное к авт. спид-ву (22)Заявлено 23.01.80 (21) 2872941/25-28 с присоединением заявки М G 01 В 7/06 6 01 N 27/00 Ркуйврствеиый кемитет СССР ио делам изебретеиий и етирития (23) Приоритет (53) УД К620. 179. .142.5(088.8) Опубликовано 07.11.81. Бюлле...
879279Способ измерения толщины слоев многослойных изделий
Изобретение относится к области неразрушающего контроля. Цель изобретения - повышение точности при измерении толщины электропроводящих изделий. Повышение точности достигается за счет устранения влияния на результат измерения вихревых токов, наводимых в слоях изделия. Для этого по контурам, образованным проводниками, размещенными между слоями, пропускают постоянный ток, длительност...
1490455Способ измерения толщины слоев
Изобретение относится к неразрушаемому контролю и может быть использовано при измерении толщины многослойных изделий. Целью изобретения является повышение производительности контроля за счет уменьшения числа операций и регистрации аналогового тока в контуре. Первоначально создаются два контура из объединяемых попарно четырех линейных проводников, расположенных на различных расстоя...
1495641Способ измерения толщины слоев
Изобретение относится к неразрушающему контролю и может быть использовано для толщинометрии слоев многослойных крупногабаритных неферромагнитных изделий. Цель изобретения - повышение точности измерения. Способ заключается в перемещении намагниченного вдоль большой оси эллипсоид вращения в диэлектрических цилиндрических трубках, размещенных между слоями изделия в процессе его изгот...
1523899Способ измерения толщины слоев
Изобретение относится к неразрешающему контролю и может быть использовано для измерения толщины слоев многослойных крупногабаритных изделий. Цель изобретения является упрощение, повышение точности измерения и производительности контроля. Способ реализуется следующим образом. Путем объединения линейных проводников 2 1, 2 2 с источником 4 тока образуют контур, в котором пропускают т...
1580150Способ измерения толщины слоев
Изобретение относится к неразрушающему контролю и может быть использовано для измерения толщины слоев многослойных крупногабаритных неферромагнитных объектов. Повышение точности измерения достигается за счет уменьшения погрешности, связанной с воздействием внешних магнитных полей. Эллипсоид 5 последовательно перемещается по диэлектрическим трубкам 2<SB POS="POST">1</SB>...
1610239Измеритель электрических и неэлектрических величин
Изобретение относится к измерению электрических и неэлектрических величин, в частности неэлектрических величин, допускающих преобразование индуктивными или емкостными датчиками, а также емкости, индуктивности. Цель изобретения - повышение точности за счет снижения влияния сопротивлений в колебательном контуре. Измеритель электрических и неэлектрических величин содержит автогенера...
1628012