PatentDB.ru — поиск по патентным документам

АГРАНОВСКИЙ БОРИС АЛЕКСАНДРОВИЧ

Изобретатель АГРАНОВСКИЙ БОРИС АЛЕКСАНДРОВИЧ является автором следующих патентов:

Способ измерения толщины слоев

Способ измерения толщины слоев

  >879279 Союз Соевтскии Социапмстическми Респубпик ОП ИСАНИЕ ИЗОБРЕТЕ Н ИЯ К АВТОРСКОМУ СВИДЕТЕЛЬСТВУ (5l)N. Кл. (51) Дополнительное к авт. спид-ву (22)Заявлено 23.01.80 (21) 2872941/25-28 с присоединением заявки М G 01 В 7/06 6 01 N 27/00 Ркуйврствеиый кемитет СССР ио делам изебретеиий и етирития (23) Приоритет (53) УД К620. 179. .142.5(088.8) Опубликовано 07.11.81. Бюлле...

879279

Способ измерения толщины слоев многослойных изделий

Способ измерения толщины слоев многослойных изделий

  Изобретение относится к области неразрушающего контроля. Цель изобретения - повышение точности при измерении толщины электропроводящих изделий. Повышение точности достигается за счет устранения влияния на результат измерения вихревых токов, наводимых в слоях изделия. Для этого по контурам, образованным проводниками, размещенными между слоями, пропускают постоянный ток, длительност...

1490455

Способ измерения толщины слоев

Способ измерения толщины слоев

  Изобретение относится к неразрушаемому контролю и может быть использовано при измерении толщины многослойных изделий. Целью изобретения является повышение производительности контроля за счет уменьшения числа операций и регистрации аналогового тока в контуре. Первоначально создаются два контура из объединяемых попарно четырех линейных проводников, расположенных на различных расстоя...

1495641

Способ измерения толщины слоев

Способ измерения толщины слоев

  Изобретение относится к неразрушающему контролю и может быть использовано для толщинометрии слоев многослойных крупногабаритных неферромагнитных изделий. Цель изобретения - повышение точности измерения. Способ заключается в перемещении намагниченного вдоль большой оси эллипсоид вращения в диэлектрических цилиндрических трубках, размещенных между слоями изделия в процессе его изгот...

1523899

Способ измерения толщины слоев

Способ измерения толщины слоев

  Изобретение относится к неразрешающему контролю и может быть использовано для измерения толщины слоев многослойных крупногабаритных изделий. Цель изобретения является упрощение, повышение точности измерения и производительности контроля. Способ реализуется следующим образом. Путем объединения линейных проводников 2 1, 2 2 с источником 4 тока образуют контур, в котором пропускают т...

1580150


Способ измерения толщины слоев

Способ измерения толщины слоев

  Изобретение относится к неразрушающему контролю и может быть использовано для измерения толщины слоев многослойных крупногабаритных неферромагнитных объектов. Повышение точности измерения достигается за счет уменьшения погрешности, связанной с воздействием внешних магнитных полей. Эллипсоид 5 последовательно перемещается по диэлектрическим трубкам 2<SB POS="POST">1</SB>...

1610239

Измеритель электрических и неэлектрических величин

Измеритель электрических и неэлектрических величин

  Изобретение относится к измерению электрических и неэлектрических величин, в частности неэлектрических величин, допускающих преобразование индуктивными или емкостными датчиками, а также емкости, индуктивности. Цель изобретения - повышение точности за счет снижения влияния сопротивлений в колебательном контуре. Измеритель электрических и неэлектрических величин содержит автогенера...

1628012