PatentDB.ru — поиск по патентным документам

ДИВИН ЮРИЙ ЯКОВЛЕВИЧ

Изобретатель ДИВИН ЮРИЙ ЯКОВЛЕВИЧ является автором следующих патентов:

Способ измерения спектрального распределения интенсивности излучения

Способ измерения спектрального распределения интенсивности излучения

  ОП ИСАНИЕ ИЗОБРЕТЕНИЯ Союз Советских Социалистических Республик 881538 К АВТОРСКОМУ СВИДЕТЕЛЬСТВУ (61) Дополнительное к авт. свмд-ву— (22) Заявлено 060778 (21) 2639129/18-25 с присоединением заявки ¹â€” (23) Приоритет— Опубликовано 151181. Бюллетень N9 42 Дата опубликования описания 15.1181 (51)М. Кл.з . G 01 J 3/28 Государственный комитет СССР но делам изобретений и от...

881538

Устройство для юстировки оптических элементов

Устройство для юстировки оптических элементов

  УСТРОЙСТВО ДЛЯ ЮСТИРОВКИ ОПТИЧЕСКИХ ЭЛЕМЕНТОВ, содержащее держатель , разделенный на три секции двумя пазами, основания которых взаимно перпендикулярны, одна секция держателя - внешняя неподвижная, а две другие - внутренняя и внешняя подвижные , регулировочный винт, взаимодействующий со свободным концом внутренней подвижной секции, и контрвинт , отличающееся тем, что, с целью рас...

1099304

Способ измерения пространственного распределения интенсивности электромагнитного излучения

Способ измерения пространственного распределения интенсивности электромагнитного излучения

  Изобретение относится к мультиплексным способам измерения пространственного распределения интенсивностей электромагнитного излучения. Цель изобретения - упрощение процесса измерения и увеличение пространственного разрешения , расширение спектральной области применимости способа в сторону длинных волн и повышения информативности способа при измерении излучения с четным пространств...

1693399

Сверхпроводящее электронное устройство и способ его изготовления

Сверхпроводящее электронное устройство и способ его изготовления

  Использование: приборостроение, микроэлектроника . Сущность изобретения: электроды выполнены из монокристаллического сверхпроводника, а мостики - из поликристаллического . Размер мостиков - больше размера зерен, но меньше перколяционной длины. Подложку выполняют монокристаллической , а в местах нахождения мостиков - поликристаллической. Сверхпроводник формируют при условиях, обес...

1785056