PatentDB.ru — поиск по патентным документам

ШВАРЦ ЮРИЙ МИХАЙЛОВИЧ

Изобретатель ШВАРЦ ЮРИЙ МИХАЙЛОВИЧ является автором следующих патентов:

Терморезистор

Терморезистор

  Ю. А. Тхорик, Ю. М. Шварц, В. B. Митин, Д. О. А. Миронов н С. В. Чистяков (72) Авторы изобретения Институт полупроводников AH Украинской CCP (71) Заявители радиофизики и -электроники АН Украинской СС (54) ТЕРМОРЕЗИСТОР Изобретение относится к технике, температурных измерений, в частности к полупроводниковым терморезисторам, и может найти применение при измерениях криогенных т...

887945

Способ определения температуры и деформирующего усилия

Способ определения температуры и деформирующего усилия

  Соцнапнстнческнк .ИЗОБРЕТЕНИЯ ()932282 К АВТОРСКОМУ СВИДЕТЕЛЬСТВУ (бт ) Дополнительное к авт. синд-ву (22) Заявлено 23.07.80 (2! ) 2964110/18-10 с присоединением заявки М (23) Приоритет Опубликовано 30. 05. 82. Бюллетень М 20 Дата опубликования описания 01.06.82 (5! )М. Кл. С 01 К 7/16 Ibcyaopasaxek камнтет СССР до делам изобретений и еткрытий (53) УДК536.53 (088. 8) Ф., H....

932282

Двухкомпонентный датчик скорости газообразного потока

Двухкомпонентный датчик скорости газообразного потока

  Изобретение относится к измерительной технике и позволяет расширить эксплуатационные возможности датчика Г их в области высокотемпературных потоков . В корпусе датчика, штоке 2 и воспринимающем элементе 1 выполнены каналы 8-11 для жидкого охладителя. При измерениях располагают датчик так, чтобы оси каналов 10, 1Г были ортогональны измеряемым составлякяцим скорости , что позволяет...

1273812

Способ измерения деформации в магнитном поле

Способ измерения деформации в магнитном поле

  Изобретение относится к измерительной технике и может быть использовано при измерении деформаций в условиях сильных переменных магнитных полей, например, при исследовании сверхпроводящих магнитных систем. Цель изобретения - повышение точности за счет приближения условий градуировки к условиям функционирования датчика на объекте. Это достигается тем, что в градуировочном устройстве...

1511590

Способ определения распределения электропроводности полупроводниковых структур

Способ определения распределения электропроводности полупроводниковых структур

  СОЮЗ СОВЕТСКИХ СОЦИАЛИСТИЧЕСКИХ РЕСПУБЛИК (51)5 G 01 R 27/02 ГОСУДАРСТВЕННЫЙ КОМИТЕТ ПО ИЗОБРЕТЕНИЯМ И ОТКРЫТИЯМ Г1РИ ГКНТ СССР ОПИСАНИЕ ИЗОБРЕТЕНИЯ К АВТОРСКОМУ СВИДЕТЕЛЬСТВУ (21) 4469092/21 (22) 01,08.88 (46) 30,01.91. Бюл. М 4 (71) Институт полупроводников АН УССР и Институт электродинамики АН УССР (72) В.В. Гордиенко, Л,B, Городжа, Ю.П. Емец, С.И. Стрилько, Ю,А. Тхори...

1624354