ВЯЧИН ВАЛЕРИЙ ВАСИЛЬЕВИЧ
Изобретатель ВЯЧИН ВАЛЕРИЙ ВАСИЛЬЕВИЧ является автором следующих патентов:
![Интерферометр для контроля формы выпуклых сферических поверхностей Интерферометр для контроля формы выпуклых сферических поверхностей](https://img.patentdb.ru/i/200x200/cd7766122c8683588559fce10dd4404c.jpg)
Интерферометр для контроля формы выпуклых сферических поверхностей
Московское ордена Ленина и ордена Трудового Красного Знамени высшее техническое училище им. Н.Э. Баумана (54) ИНТЕРФЕРОМЕТР ДЛЯ КОНТРОЛЯ ФОРМЫ ВЫПУКЛЫХ СФЕРИЧЕСКИХ ПОВЕРХНОСТЕЙ Изобретение относится к контрольно-измерительной технике, предназначено для .контроля формы выпуклых сферических поверхностей, и может быть использовано преимущественно в производстве, занятом изготов...
911144![Интерферометр для исследования оптических неоднородностей стекла в оптических деталях Интерферометр для исследования оптических неоднородностей стекла в оптических деталях](https://img.patentdb.ru/i/200x200/672b6d9ffa93385318aaaaba1fb27f4c.jpg)
Интерферометр для исследования оптических неоднородностей стекла в оптических деталях
(72) Авторы изобретения В. В. Вячин, О. В. Понин и Н. С. Ш (71) Заявитеяь (54) ИНТЕРФЕРОИЕТР ДЛЯ ИССЛЕДОВАНИЯ ОПТИЧЕСКИХ НЕОДНОРОДНОСТЕЙ СТЕКЛА В ОПТИЧЕСКИХ ДЕТАЛЯХ Изобретение относится к измерительной технике и может быть использовано в интерферометрах, предназначенных для исследования оптических неоднородностей стекла в оптических деталях и заготовках, преимуществен. но кру...
911145![Интерферометр для исследования оптических неоднородностей стекла в оптических деталях Интерферометр для исследования оптических неоднородностей стекла в оптических деталях](https://img.patentdb.ru/i/200x200/8f12a30aa562e0e396c3b2f4046a72de.jpg)
Интерферометр для исследования оптических неоднородностей стекла в оптических деталях
Союз Советских Социвпистическик Республик К АВТОРСКОМУ СВИДЕТЕЛЬСТВУ (6l ) Дополнительное к авт. саид-ву (22)Заявлено 04.07,80 (2! ) 2950176/25-28 с присоединением заявки М (23) Приоритет Опубликовано 15. 06. 82. Бюллетень,ре 22 Дата опубликования описания 15 .06 .82 (51) М. Кл. G 01 В 9/02 ВеударствовМ кенктвт CCCP lo аелан язабретений к еткрыткя (53) УДК 531 ° 715 °.1(0...
935702![Интерферометр для контроля качества оптических поверхностей Интерферометр для контроля качества оптических поверхностей](https://img.patentdb.ru/i/200x200/6ece221e96dc5c5a013a327c5052d743.jpg)
Интерферометр для контроля качества оптических поверхностей
1. ИНТЕРФЕРОМЕТР ДЛЯ КОНТРОЛЯ КАЧЕСТВА ОПТИЧЕСКИХ ПОВЕРХНОСТЕЙ , содержащий последовательно расположенные монохроматический источник света, телескопическую систему и светоделитель, делящий световой поток на две ветви, микрообъектив, объектив и опорный оптический элемент , расположенные в первой ветви, плоское зеркало, голограмму, объектив , диафрагму и регистратор, расположенные...
1104362![Устройство для измерения геометрических размеров объекта Устройство для измерения геометрических размеров объекта](https://img.patentdb.ru/i/200x200/7a3d24f45b496585dea80e2a76a1e77d.jpg)
Устройство для измерения геометрических размеров объекта
Изобретение относится к измерительной технике и может быть использовано при измерении линейных размеров протяженных объектов, в частности для бесконтактного оптического контроля геометрической толщины таких оптических деталей, как линзы со сферическими и асферическими поверхностями, плоскопараллельные пластины, светофильтры волоконно-оптические щайбы. Цель изобретения - повышение...
1310628