PatentDB.ru — поиск по патентным документам

УСТИНОВ ВАЛЕРИЙ МИХАЙЛОВИЧ

Изобретатель УСТИНОВ ВАЛЕРИЙ МИХАЙЛОВИЧ является автором следующих патентов:

Устройство для исследования резонанса доменных границ в магнитных пленках

Устройство для исследования резонанса доменных границ в магнитных пленках

  ОП ИСАНИЕ ИЗОБРЕТЕН ИЯ К АВТОРСКОМУ СВИДЕТЕЛЬСТВУ (и911271 Союз Советских Социалистических Республик (Ы )-Дополнительное к авт. спид-ву (22) Заявлено 240680 (21) 2946318/18-25 (51) М. Кл. с присоединением заявки № G 01 N 24/14 аваударатванаый каинтет СССР но делам наабратаннй н аткрытнй (23) Приоритет Онублнковано 0 70 382. Бюллетень № 9 (53) УДК539.143.43: :543.53 (088....

911271

Способ определения структуры тонких магнитных пленок

Способ определения структуры тонких магнитных пленок

  ОП ИСАНИЙ ИЗОБРЕТЕНИЯ К АВТОРСКОМУ СВИДЕТЕЛЬСТВУ Союз Советскнх Социалистических Республик G 01 R 33/12 с присоединением заявки М Гоаудауатвехвый камитет СССР (23) Приоритет по лелем изабаетений и атхрытвй Опубликовано 30 ° 03 82 «иоллетень М 12 Дата опубликования описания 30. 03. 82 (53) УДК 621. .317-44 (088.8) Л.А. Иевенко, А.Ю. Кожухарь и В.М. Ус икнув,:„„-,,,.» ji-...

917150

Держатель образца и эталона к двухкристальному рентгеновскому спектрометру

Держатель образца и эталона к двухкристальному рентгеновскому спектрометру

  ДЕРЖАТЕЛЬ ОБРАЗЦА И ЭТАЛОШ К ДВУХКРИСТАЛЬНОМУ РЕНТГЕНОВСКОЕ СПЕКТРОМЕТРУ, выполненный в ввде пластины с полированной базовой плоскостью , отличающийся тем, что, с целью повышения точности при прецизионном определении периода решетки , в базовой плоскости пластинывьшолнено отверстие, в котором размещена вторая пластина с полированной базовой плоскостью с возможностью поворота вокр...

1129516