PatentDB.ru — поиск по патентным документам

ЗАРГАРЯН ЕРДЖАНИК ГРИГОРЬЕВИЧ

Изобретатель ЗАРГАРЯН ЕРДЖАНИК ГРИГОРЬЕВИЧ является автором следующих патентов:

Способ исследования структурного совершенства пьезоэлектрических монокристаллов

Способ исследования структурного совершенства пьезоэлектрических монокристаллов

  Ь П И С А Н И Е (935759 ИЗЬВРЕТЕН ИЯ К АВТОРСКОМУ СВИДЕТЕЛЬСТВУ. Союз Советскик Сецналнстическик Реслублнк (6l ) Дополнительное к авт. свид-ву(51)И. Кй, (22) Заявлено 08. 10. 80 (2 I ) 2989163/18-25 С 01 И 23/205 с присоединением заявки М Р ударстршшый квинтет СССР . ае аман кзебретеккй к еткрыткй (23) Приоритет Опубликовано 15.06.82.. Бюллетень М 22 ($3) ggg 548 ° 73 (088...

935759

Рентгенографический способ исследования структурного совершенства монокристаллов (его варианты)

Рентгенографический способ исследования структурного совершенства монокристаллов (его варианты)

  1. Рентгенографический способ исследования совершенства монокристаллов , по которому лентообразный пучок рентгеновского излучения направляют на неподвижный исследуемый монокристалл и регистрируют за ним секцион- v ную дифракционную картину, о г л ич ающий ся тем, что, с целью расширения информативности исследования , в качестве исследуемого монокристалла используют ступенчатый мо...

1133520

Рентгенографический способ исследования структурного совершенства сверхрешеток

Рентгенографический способ исследования структурного совершенства сверхрешеток

  Изобретение относится к рентгенографической диагностике структурного совершенства кристаллов и предназначено для исследования структурного совершенства сверхрешеток. Цель изобретения - послойное исследование качества структуры. Снимают кривую отражения сверхрешетки для симметричной геометрии дифракции, состоящую из системы сателлитных пиков. Из данных полученной кривой рассчитываю...

1543313