ЗАРГАРЯН ЕРДЖАНИК ГРИГОРЬЕВИЧ
Изобретатель ЗАРГАРЯН ЕРДЖАНИК ГРИГОРЬЕВИЧ является автором следующих патентов:
Способ исследования структурного совершенства пьезоэлектрических монокристаллов
Ь П И С А Н И Е (935759 ИЗЬВРЕТЕН ИЯ К АВТОРСКОМУ СВИДЕТЕЛЬСТВУ. Союз Советскик Сецналнстическик Реслублнк (6l ) Дополнительное к авт. свид-ву(51)И. Кй, (22) Заявлено 08. 10. 80 (2 I ) 2989163/18-25 С 01 И 23/205 с присоединением заявки М Р ударстршшый квинтет СССР . ае аман кзебретеккй к еткрыткй (23) Приоритет Опубликовано 15.06.82.. Бюллетень М 22 ($3) ggg 548 ° 73 (088...
935759Рентгенографический способ исследования структурного совершенства монокристаллов (его варианты)
1. Рентгенографический способ исследования совершенства монокристаллов , по которому лентообразный пучок рентгеновского излучения направляют на неподвижный исследуемый монокристалл и регистрируют за ним секцион- v ную дифракционную картину, о г л ич ающий ся тем, что, с целью расширения информативности исследования , в качестве исследуемого монокристалла используют ступенчатый мо...
1133520Рентгенографический способ исследования структурного совершенства сверхрешеток
Изобретение относится к рентгенографической диагностике структурного совершенства кристаллов и предназначено для исследования структурного совершенства сверхрешеток. Цель изобретения - послойное исследование качества структуры. Снимают кривую отражения сверхрешетки для симметричной геометрии дифракции, состоящую из системы сателлитных пиков. Из данных полученной кривой рассчитываю...
1543313