ШЕНДЕРОВИЧ ЛЕВ СИМОНОВИЧ

  P. M. Иуниц, А. К. Петров и,ll. С. ШенДе ювич взебретеив я Г i I (71) Заявитель (54) СПОСОБ ИЗИЕРЕНИЯ ПАРАМЕТРОВ ТОНКОЙ ПРОЗРАЧНОЙ ПЛЕНКИ Изобретение относится к контрольно-измерительной технике и может быть применено для измерения параметров тонких прозрачных пленок, включая измерения в процессе нанесения плен-. 5 ки . Известны интерферометрические методы измерения парамет...

  Союз Советскик Социалистическмк Республик ОП ИСАНИЕ ИЗОБРЕТЕН ИЯ К АВТОРСКОМУ СВИДЕТЕЛЬСТВУ

  СПОСОБ ОПРЕДЕЛЕНИЯ УГЛА МЕЖДУ ОПТИЧЕСКОЙ ОСЬЮ ОДНООСНОГО КРИСТАЛЛА И ЕГО ВХОДНОЙ ГРАНЬЮ, заключающийся в том, что кристалл просвечивают коническим пучком монохроматического поляризованного света и совмещают центр коноскопической фигуры с маркой, отличающийся тем, что, с целью повьшения точности измерений, марку образуют путем дополнительного просвечивания кристалла параллельным п...

  Изобретение относится к измерениям с использованием оптичебких средств. Цель изобретения - повышение точности контроля при нанесении многослойного интерференционного неравнотолщинного покрытия посредством просвечивания покрытия и изменения длины волны излучения для каждого наносимого . Для этого перед нанесением каждого слоя покрытия изменяют длину волны просвечивающего излучения...