PatentDB.ru — поиск по патентным документам

ЧЕБАКОВА ОЛЬГА ВИКТОРОВНА

Изобретатель ЧЕБАКОВА ОЛЬГА ВИКТОРОВНА является автором следующих патентов:

Способ контроля отклонения формы поверхности детали

Способ контроля отклонения формы поверхности детали

  ОП ИСАНИЕ ИЗОБРЕТЕНИЯ К АВТОРСКОМУ СВИДЕТЕЛЬСТВУ Союз Советски к Социалистическик Республик (iii938008 (6! ) Дополнительное к авт. свиа-ву (22)Заявлено 09. 12 .80 (21) 3214286/25-28 с ёрисоелинением заявки № (23) Приоритет Опубликовано 23. 06. 82. Бюллетвнь № 23 Дата опубликования описания 25.06.82 (53)М. Кл. С 01 В 11У24 фВуАврстккнкьй квмнткт СССР ао двлэи нэобретекий...

938008

Устройство для копирной обработки асферических поверхностей

Устройство для копирной обработки асферических поверхностей

  ОПИСАНИЕ ИЗОБРЕТЕНИЯ К АВТОРСКОМУ СВИДЕТЕЛЬСТВУ Союз Советских Социалистических Республик оп986737 (61) Дополнительное к авт. свид-ву— (22) Заявлено 19. 08. 81 (21) 3364967/25-08 с присоединением заявки ¹ (23) Приоритет— Опубликовано 070183. Бюллетень ¹ 1 Дата опубликования описания 07.01.83 fS)) М. КлР В 24 В 13/00 Государственный комитет СССР по делам изобретений и...

986737

Устройство для копировальной обработки асферических поверхностей

Устройство для копировальной обработки асферических поверхностей

  Оп ИСАНИЕ И ЗОБУЕТЕ Н ИЯ К АВТОРСКОМУ СВИДЕТЕЛЬСТВУ

996174

Устройство для обработки асферических поверхностей

Устройство для обработки асферических поверхностей

  1. УСТРОЙдТВО ДЛЯ ОБРАБОТКИ АСФЕРИЧЕСКИХ ПОВЕРХНОСТЕЙ включающее держатель инструмента и копирный механизм, состоящий из основного и дополнительного копиров, систем передач и элементов суммирования перемещений выходных звеньев копирного механизма, отличающееся тем, что, с целью повышения точности обработки асферической поверхности значительной крутизны и асферичности, основной и...

1028480

Способ контроля отклонения формы поверхности деталей сложной формы

Способ контроля отклонения формы поверхности деталей сложной формы

  СПОСОБ КОНТРОЛЯ ОТКЛОНЕНИЯ ФОРМЫ ПОВЕРХНОСТИ ДЕТАЛЕЙ СЛОЖНОЙ ФОР№1, заключающийся в том, что получают изображения топограмлм поверхностей контролируемой детали и эталона, совмещают эти изображения , получают муаров5ю картину в виде муаровых полос, по шагу которых судят об. отклонении $OPNEJ поверхности детали, отличающ и и с я тем, что, с целью повышения точности и производительн...

1065683