ХАПАЧЕВ ЮРИЙ ПШИКАНОВИЧ
Изобретатель ХАПАЧЕВ ЮРИЙ ПШИКАНОВИЧ является автором следующих патентов:
Способ дифракционного анализа структуры монокристаллов
Сетей Сееетеиыв Сфциалыстычесимк Республик ОП ИСАНИЕ ИЗОВ ЕТЕНИЯ К АВТОРСКОМУ СВИДЕТЕЛЬСТВУ < .938113 (61) Дополнительное к авт. свкд-ву(22) Закалено 12. 12,80 (21) 32 16286(18-25 (Cl)NL. Кл. G 01 и 23(20 с присоединением заявки J4— (23) Приоритет 1Ъвудэрстюиивй квинтет CCCP ае йжйеи вюбретеиий и еткрытвй Опубликовано 23.06.82. трюллетснь М 23 Дата опубликования описани...
938113
Рентгенодифракционный способ определения градиента деформации неоднородных по составу монокристаллических пленочных образов
Изобретение относится к измерительной технике, к рентгенодифракционному определению градиента деформации неоднородных по составу монокристаллических пленочных образцов. Цель изобретения - обеспечение возможности определения также и толщины монокристаллических пленочных образцов по характеристикам кривой дифракционного отражения (КДО) пленочного образца. Для этого на образец напра...
1629753