PatentDB.ru — поиск по патентным документам

РОКОС ИРЖИ АНТОНОВИЧ

Изобретатель РОКОС ИРЖИ АНТОНОВИЧ является автором следующих патентов:

Поляризационный интерферометр

Поляризационный интерферометр

  Союз Советских Социалистических Республик О П И С А Н И Е 940017 ИЗОВееЕТЕН ИЯ К АВТОРСКОМУ СВИДЕТЕЛЬСТВУ (6l ) Дополнительное к авт. свид-ву(22)Заявлено 04.01.80 (21) 2870501/18-25 с присоединением заявки № (23) Приоритет (53 ) M. Кл. G 01 N 21/21// G 01 В 9/02 9теударстаеиаый комитет СССР до делам изобретений и открытий Опубликовано 30. 06, 82. Бюллетень № 24 Дата опуб...

940017

Интерференционный расходомер

Интерференционный расходомер

  ОП ИСАНИЕ ИЗОБРЕТЕН ИЯ К АВТОРСКОМУ СВИДЕТЕЛЬСТВУ < 972219 Союз Советских Социалистических Республик (61) Дополнительное к авт. свид-вт— (51) М. Кл.з (22) Заявлено 04.04.80 (2! ) 2905) 71/18-10 G 01 F 1/00 с присоединением заявки №вЂ” (23) Приоритет— Гесударственнмй комитет СССР (53) УДК 681.121 (088.8) Опубликовано 07.11.82. Бюллетень № 41 Дата опубликования описания...

972219

Устройство для измерения поляризационных характеристик анизотропных сред

Устройство для измерения поляризационных характеристик анизотропных сред

  УСТРОЙСТВО ДЛЯ ИЗМЕРЕНИЯ ПОЛЯРИЗАЦИОННЫХ ХАРАКТЕРИСТИК АНИЗОТРОПНЫХ СРЕД , содержаи1ее оптически связанные источник монохрйматического и злу.чения, коллиматор, светоделительное зеркало, поляризатор, модулятор держатель для исследуемого образца , нормально отражаютее зеркало, компенсатор, анализатор, фотоприемник , соединенный с регистрирукяаим устройством, о т л и ч а ю щ ес .я т...

1021959

Многолучевой интерферометр

Многолучевой интерферометр

  СОЮЗ СОВЕТСКИХ СОЦИАЛИСТИЧЕСКИХ РЕСПУБЛИК (1% 01) ЗШ G 01 В 9/02 // С 01 J 3 26 ГОСУДАРСТВЕННЫЙ КОМИТЕТ СССР ПО ДЕЛАМ ИЗОБРЕТЕНИЙ И OTHPblTHA г,. ОПИСАНИЕ ИЗОБРЕТЕНИЯ К ABTOPCHOIVIY СВИДЕТЕЛЬСТВУ i(21) 3437532/18-25 (22) 06.05.82 (46) 15.12.83. Бюл. Р 46 (72) И.A.Ðîêoñ (71) Всесоюзный научно-исследовательский институт физико-технических и радиотехнических измерений (53) 5...

1060939

Рефрактометр для анизотропных кристаллов

Рефрактометр для анизотропных кристаллов

  РЕФРАКТОМЕТР для анизотропных кристаллов, содержащий источник излучения и последовательно расположенные по ходу излучения поляризатор , гониометр, анализатор и фотоприемник , отличающийся тем, что, с целью измерения коэффициентов пр шомпеиия анизотропных кристаллов, обладающих оптической активностью и дихроизмом, и повьппения точности измерений, в устройст-, во введены два полупр...

1100541


Устройство для измерения оптических параметров прозрачных сред на основе интерферометра маха-цендера

Устройство для измерения оптических параметров прозрачных сред на основе интерферометра маха-цендера

  1.УСТРОЙСТВО ДЛЯ ИЗМЕРЕНИЯ ОПТИЧЕСКИХ ПАРАЖТРОВ ПРОЗРАЧНЫХ СРЕД НА ОСНОВЕ ИНТЕРФЕРОЖТРА МАХАЦЕНДЕРА , содержащее источник монохроматического излучения с блоком питания и расположенные по ходу излучения.коллиматор, интерферометр, включаюп два непрозрачных и два полупрозрачных зеркала анализатор и фoтoпpиe шшc, соединенный с ре .гистрирующим устройством, а также два поляризатора, о...

1130778

Способ измерения оптических параметров фазовых пластинок и устройство для его осуществления

Способ измерения оптических параметров фазовых пластинок и устройство для его осуществления

  1. Способ измерения оптических параметров фазовых пластинок, состоящий в том, что через исследуемый объект пропускают модулированньй по состоянию поляризации луч, измеряют азимуты анализатора, при которых амплитуды соответственно четных и нечетных гармоник равны нулю, и по измеренньм величинам азимутов анализатора определяют параметры фазовых пластинок, о тличающий ся тем, что, с...

1153275

Интерферометрическое измерительное устройство

Интерферометрическое измерительное устройство

  ИНТЕРФЕРОМЕТРИЧЕСКОЕ ИЗМЕРИТЕЛЬНОЕ УСТРОЙСТВО, содержащее источник линейно поляризованного излучения и оптически связанные светоделитель и два плоских зеркала, предметный столик, установленный с возможностью вращения вокруг оси, параллельной двум плоским зеркалам; два дополнительных плоских зеркала, установленных на столике параллельно отражающим плоскостям одно навстречу другому...

1165878

Устройство для измерения оптических параметров кристаллов

Устройство для измерения оптических параметров кристаллов

  Изобретение относится к измерительной технике и предназначено для исследования анизотронных сред. ,. Цель изобретения - измерение параметров поглощающих гиротропных кристаллов . Поставленная цель достигается тем, что луч света от источника 1 проходит через поляризатор 2, электрооптический модулятор эллиптичности 3 на частоте uJ, и направляется на-двухлучевой интерферометр Маха-Ца...

1278689